Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 11, z ogólnej liczby 15 publikacji Autora


1
2
  • Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

3
  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

4
5
6
  • Effects of multiple elastic and inelastic scattering on energy-resolved contrast in Kikuchi diffraction / M. Vos, A. WINKELMANN // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2019 vol. 21 iss. 12 art. no. 123018, s. 1–19. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 18–19, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-12-13. — A. Winkelmann - pierwsza afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V., Hannover, Germany. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/ab5cd1/pdf

  • keywords: silicon, Kikuchi pattern, electron energy loss

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/ab5cd1

7
  • Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko1, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time-of-flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

8
9
10
  • Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816

11
  • Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // Semiconductor Science and Technology ; ISSN 0268-1242. — 2020 vol. 35 no. 5 art. no. 054001, s. 1–15. — Bibliogr. s. 13–15, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-25. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathelyde, United Kingdom. — 21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (MSM-XXI) : 9–12 April 2019, Cambridge, UK. — tekst: https://iopscience-1iop-1org-1ickguhun00e2.wbg2.bg.agh.edu.pl/article/10.1088/1361-6641/ab75a5/pdf

  • keywords: SEM, EBSD, CL, ECCI, nitride, extended defects

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1361-6641/ab75a5