Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. zw. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Katedra Elektroniki

[dyscyplina wiodąca] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[dyscyplina dodatkowa] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 909723

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 389, z ogólnej liczby 431 publikacji Autora


1
2
3
4
5
  • Analog signal processing in readout electronics for silicon detectors / H. MAŃKA, W. KUCEWICZ // W: MIXDES 2002 : Mixed Design of integrated circuits and systems : proceedings of the 9\textsuperscript{th} [ninth] international conference : Wrocław, Poland 20–22 June 2002 / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland : s. n.], [2002]. — S. 593–598. — Bibliogr. s. 598, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
7
8
9
10
11
12
13
14
  • A novel beta particle silicon dosimeter / C. Cappellini [et al.], W. KUCEWICZ,[et al.] // W: ESTRO : European Society for Therapeutic Radiology and Oncology : joint brachytherapy meeting GEC/ESTRO – ABS – GLAC : Barcelona, Spain, 13–15 May, 2004 / ESTRO. — [Spain : ESTRO], [2004]. — S. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
16
  • A readout circuit dedicated for the detection of chemiluminescence using a silicon photomultiplier / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, Ł. MIK, W. KUCEWICZ, W. RECZYŃSKI, M. SAPOR // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2018 vol. 13 art. no. P05010, s. [1], 1–12. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 10–12, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-05-08. — Ł. Mik, W. Kucewicz - dod. afiliacja: State Higher Vocational School, Tarnow. — tekst: https://goo.gl/S1SsSk

  • keywords: front-end electronics for detector readout, analogue electronic circuits, photon detectors for UV, visible and IR photons (solid-state) (PIN diodes, APDs, Si-PMTs, G-APDs, CCDs, EBCCDs, EMCCDs etc), optical detector readout concepts

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/13/05/P05010

17
  • Bandgap voltage reference and temperature sensor in novel SOI technology / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Marek IDZIK, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Piotr Kapusta, Yasuo Arai, Toshinobu Miyoshi, Ayaki Takeda // W: ICSES 2014 [Dokument elektroniczny] : International Conference on Signals and Electronic Systems : Poznań, Poland, 11–13 September 2014 : international conference / Faculty of Electronics and Telecommunications. Poznan University of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poznan : University of Technology], [2014]. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-4799-7009-4. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [4], Abstr.. — Tekst dostępny również on-line: {http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp==6948708}. — ISBN978-1-4799-7009-4

  • keywords: temperature sensor, band gap, PTAT

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/ICSES.2014.6948708

18
19
20
  • Całun Turyński w świetle badań naukowych[Turin Shroud in the light of scientific research] / Wojciech KUCEWICZ // W: Współczesne kierunki rozwoju elektrotechniki, automatyki, informatyki, elektroniki i telekomunikacji : materiały międzynarodowej konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE : Kraków, 7–8 czerwca 2002 / kom. red. Tomasz Zieliński, Dariusz Borkowski ; AGH WEAIiE. — [Kraków : WEAIiE], 2002. — Na k. tyt. dodatkowo: Złoty Jubileusz Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie. — S. 27–30. — Bibliogr. s. 30, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
22
23
  • Characterization of the 8-channel single-photon counting front-end chip for the upgrade of the LHCb RICH detectors / M. Andreotti, [et al.], M. BASZCZYK, [et al.], P. DOROSZ, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.] // W: 2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : Oct. 31–Nov. 7 2015, [San Diego, California]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2015]. — e-ISBN: 978-1-4673-9862-6. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-10-06. — M. Baszczyk, P. Dorosz, W. Kucewicz – dod. afiliacja: INP, Kraków. — tekst: https://goo.gl/X9tJsY

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2015.7581974

24
  • Characterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $\mu$m technology / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik // W: MIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20\textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — Opis wg okł.. — ISBN: 978-836357801-5. — S. 95. — Abstr.. — Pełny tekst W: Mixdes 2013 [Dokument elektroniczny] : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : proceedings of the 20\textsuperscript{th} international conference : Gdynia, Poland, 20–22 June 2013 / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Łódź : University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — S. 360–364. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. Tytuł przejęto ze s. tyt. — Bibliogr. s. 364, Abstr. — ISBN 978-83-63578-00-8

  • keywords: SOI, SOI detector, transistor characterization, back gate effect, burried p-well

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25