Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 32, z ogólnej liczby 36 publikacji Autora


1
  • 3D Active sites of Te in hyperdoped Si by hard X-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / Moritz Hoesch, Mao Wang, Shengqiang Zhou, Christoph Schlüter, Olena Fedchenko, Katerina Medjanik, Sergej Babenkov, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Gerd Schönhense // W: Virtual DPG spring meeting 2021 [Dokument elektroniczny] : of the surface science division : 1-4 March 2021. — [Deutschland : Deutsche Physikalische Gesellschaft], [2021]. — S. 58, [O 46.2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://surfacescience21.dpg-tagungen.de/bilder/programm.pdf [2021-10-08]. — Bibliogr. s. 58

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

4
  • Adaptive phase or variant formation in modulated $Ni-Mn-Ga$ martensite? / R. Chulist, A. Sozinov, M. Faryna, A. WINKELMANN, L. Straka, N. Schell, W. Skrotzki // W: ICOTOM\textsuperscript{19}(2021) [Dokument elektroniczny] : the 19th International Conference on Textures of Materials : March 1 to 4, 2021, virtual conference, Japan : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Japan : s. n.], [2021]. — S. 114. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://icotom19.com/ [2021-11-26]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, [et al.], A. WINKELMANN // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering ; ISSN 1757-8981. — 2020 vol. 891 art. no. 012023, s. 1–10. — Bibliogr. s. 8–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-08-05. — EMAS 2019 Workshop : 16th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis : 19–23 May 2019, Trondheim. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1757-899X/891/1/012023/pdf

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1757-899X/891/1/012023

6
7
8
  • Bulk spin polarization of magnetite from spin-resolved hard x-ray photoelectron spectroscopy / M. Schmitt, [et al.], A. WINKELMANN, [et al.] // Physical Review. B ; ISSN 2469-9950. — Tytuł poprz.: Physical Review B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN: 1098-0121. — 2021 vol. 104 iss. 4 art. no. 045129, s. 045129-1–045129-10. — Bibliogr. s. 045129-8–045129-10. — Publikacja dostępna online od: 2021-07-19. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.104.045129

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1103/PhysRevB.104.045129

9
  • Correlating crystallographic orientation and ferroic properties of twin domains in metal halide perovskites / Yongtao Liu, Patrick Trimby, Liam Collins, Mahshid Ahmadi, Aimo WINKELMANN, Roger Proksch, Olga S. Ovchinnikova // ACS Nano ; ISSN 1936-0851. — 2021 vol. 15 iss. 4, s. 7139–7148. — Bibliogr. s. 7146–7148, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-03-26. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw91w00ab.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acsnano.1c00310

    orcid iD
  • keywords: piezoelectricity, crystallographic orientation, ferroelectricity, electron backscatter diffraction, metal halide perovskites, piezoresponse force microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsnano.1c00310

10
  • Correlation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel / Thomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-09-25. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136

    orcid iD
  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

11
12
13
14
15
  • Effects of multiple elastic and inelastic scattering on energy-resolved contrast in Kikuchi diffraction / M. Vos, A. WINKELMANN // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2019 vol. 21 iss. 12 art. no. 123018, s. 1–19. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 18–19, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-12-13. — A. Winkelmann - pierwsza afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V., Hannover, Germany. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/ab5cd1/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, Kikuchi pattern, electron energy loss

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/ab5cd1

16
  • Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko1, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

    orcid iD
  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

17
18
  • Investigation of EBSD post-processing techniques for aluminium-nitride thin films grown on nano-patterned sapphire : [abstract] / R. McDermott, [et al.], A. WINKELMANN // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [31–32]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-2021.html [2021-11-25]. — Bibliogr. s. [31–32]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
21
  • Methods for quasicrystals analysis using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 48. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, P. Bała - dod. afiliacja: Faculty of Metals and Industrial Computer Science, AGH University of Science and Technology

  • keywords: EBSD, quasicrystals, approximants, dynamical simulation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • Quantitative orientation data from thin film GaN using virtual diode and centre of mass imaging : [abstract] / K. Hiller, J. Bruckbauer, A. WINKELMANN, B. Hourahine, P. J. Parbrook, C. Trager-Cowan // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [29]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-2021.html [2021-11-25]. — Bibliogr. s. [29]. — Dostęp po zalogowaniu

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • Quasicrystal orientation determination using EBSD : [abstract] / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // W: EBSD 2021 [Dokument elektroniczny] : virtual Electron Backscatter Diffraction meeting 2021 : online, 20–21 April 2021. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Oxford : Royal Microscopical Society], [2021]. — S. [33]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.rms.org.uk/rms-event-calendar/2021-events/ebsd-2021.html [2021-11-26]. — Dostęp po zalogowaniu. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom; P. Bała - dod. afiliacja: ACMiN AGH

  • keywords: EBSD, quasicrystals, approximants, dynamical simulation

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • Recent advances in EBSD / G. CIOS, T. TOKARSKI, A. WINKELMANN, P. BAŁA // W: 13\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 53–54. — Bibliogr. s. 54

  • keywords: EBSD, crystallography, microanalysis

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

    orcid iD
  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816