Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Nowak, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

* Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics
WEAIiE-ke


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 19, z ogólnej liczby 22 publikacji Autora


1
  • Badania korozji atmosferycznej drutów na przewody ze stopów AlMgSiInvestigations of the atmospheric corrosion of wires made of AlMgSi / A. MARASZEWSKA, S. NOWAK, Z. SIERPIŃSKI, T. KNYCH // Ochrona przed Korozją ; ISSN 0473-7733. — 2002 wyd. spec., s. 227–231. — Bibliogr. s. 231, Streszcz., Abstr.. — KOROZJA 2002 : „problemy nowego tysiąclecia” : VII [siódma] ogólnopolska konferencja = the 7th Polish corrosion conference : 260 impreza Europejskiej Federacji Korozji = 260st event of European Federation of Corrosion : Kraków, 17–21 czerwca 2002 : materiały konferencyjne = proceedings / pod red. Jacek Banaś, Robert Filipek, Zbigniew Żurek. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, [2002]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Carbon-polymer posistors heating layer on enamelled steel substrates / Łukasik Andrzej, NOWAK Stanisław, SIWULSKI Stanisław // W: IMAPS'2003 : 27-th international conference and exhibition IMAPS [International Microelectronics and Packaging Society]-Poland 2003 : 16–19 September, 2003 Podlesice–Gliwice, Poland : proceedings / eds. Maria Drelichowska [et al.] ; IMAPS. Poland-Chapter. — [Gliwice : Silesian University of Technology], [2003]. — S. 207–210. — Bibliogr. s. 210, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Elektronika dziś i jutro[Today and tomorrow of electronics] / Stanisław NOWAK // W: Współczesne kierunki rozwoju elektrotechniki, automatyki, informatyki, elektroniki i telekomunikacji : materiały międzynarodowej konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE : Kraków, 7–8 czerwca 2002 / kom. red. Tomasz Zieliński, Dariusz Borkowski ; AGH WEAIiE. — [Kraków : WEAIiE], 2002. — Na k. tyt. dodatkowo: Złoty Jubileusz Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie. — S. 91–94. — Bibliogr. s. 94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • HF PRO: program do symulacji propagacji fal radiowych w paśmie HF[HF PRO: a software for simulation of the radio waves in the band] / Janusz MŁYNARCZYK, Julien Caratori, Stanisław NOWAK // W: URSI '02 : X [dziesiąte] Krajowe Sympozjum Nauk Radiowych : Poznań, 14–15 marca 2002 / Politechnika Poznańska. Instytut Elektroniki i Telekomunikacji. — [Poznań : PP IET], [2002]. — S. 87–92. — Bibliogr. s. 92, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Improvement in silicon thin film solar cell efficiency / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, S. NOWAK // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2003 vol. 11 nr 4, s. 281–289. — Bibliogr. s. 289, Abstr.

  • keywords: RF PECVD, silicon thin film solar cells, hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H), microcrystalline silicon, single-, tandem- and triple-junction solar cells

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Influence of double-side antireflection coatings and $ZnO/p^{+} a-Si:H/i a-Si:H$ film properties on $pin a-Si:H$ solar cells performance / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Stanisław NOWAK, Edward LEJA // W: IMAPS Europe Cracow 2002 : European microelectronics packaging & interconnection symposium : 16–18 June 2002 Cracow, Poland : proceedings / eds. A. Dziedzic, L. J. Golonka ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2002. — Na obwol. dod. : Symposium proceedings. — S. 358–361. — Bibliogr. s. 361, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Influence of $ZnO/p^{+}a-Si:H$ microcrystallization and antireflection coatings on pin $a-Si:H$ solar cells performance / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Stanisław NOWAK // W: MRS Materials Research Society 2002 [Dokument elektroniczny] : Amorphous and heterogeneous silicon-based films–2002. symposium A, 2002 spring meeting proceedings / eds. J. R. Abelson [et al.]. — [S. l. : MRS], [2002]. — (MRS Proceedings ; ISSN 1946-4274 ; vol. 715). — Ekran A6.7.1–A6.7.6. — Tryb dostępu: http://www.mrs.org/publications/epubs/proceedings/spring2002/a/ [2003-05-20]. — Bibliogr. ekran A6.7.6, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Microwave resonant elements up to 20 GHZ manufactured in photoimageable thick-film technology / Barbara DZIURDZIA, Stanisław NOWAK, Michał Cież, Wojciech Gregorczyk // W: IMAPS Europe Cracow 2002 : European microelectronics packaging & interconnection symposium : 16–18 June 2002 Cracow, Poland : proceedings / eds. A. Dziedzic, L. J. Golonka ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2002. — Na obwol. dod. : Symposium proceedings. — S. 409–414. — Bibliogr. s. 414, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Mikrosystemy i sensoryMicrosystems and sensors / Lidia MAKSYMOWICZ, Stanisław NOWAK, Edward LEJA, Tadeusz PISARKIEWICZ, Tomasz STAPIŃSKI, Katarzyna ZAKRZEWSKA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 nr 3, s. 63–69. — Bibliogr. s. 68–69, Streszcz., Abstr.. — AGH 55 lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Operational risk assessment of failure to obtain the properties of thermal treatment of air aluminum alloys / Stanisław NOWAK, Bogusław ŚWIĄTEK, Krzysztof ŻABA, Adam Sury, Marek Wojtas, Marcin Głodzik, Daniel POCIECHA, Sandra Puchlerska // W: WCCM XI ; ECCM V ; ECFD VI [Dokument elektroniczny] : 11th World Congress on Computational Mechanics ; 5th European Conference on Computational Mechanics : 6th European Conference on Computational Fluid Dynamics : Barcelona, Spain, 20–25 July 2014. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Barcelona : International Center of Numerical Methods Engineering], 2014. — e-ISBN: 978-84-942844-7-2. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.wccm-eccm-ecfd2014.org/admin/files/fileabstract/a1418.pdf [2014-09-03]

  • keywords: neural networks, aluminum, variability problems

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Photoimageable dielectric – processing, properties, compatibility with conventional thick film conductors / Barbara DZIURDZIA, Zbigniew MAGOŃSKI, Stanisław NOWAK, Michał Cież, Wojciech Gregorczyk // W: 20 [Twenty] years IMAPS Poland 1982–2002 : XXVI [twenty sixth] international conference of International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter : Warsaw, 25–27 September 2002 : proceedings / ed. Ryszard Kisiel ; IMAPS. Poland Chapter. — [Poland : IMAPS. Poland Chapter], [2002]. — Opis częśc. wg okł. — S. 134–141. — Bibliogr. s. 141, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Photo patterned thick-film resonators / Barbara DZIURDZIA, Stanisław NOWAK, Wojciech Gregorczyk, Michał Cież // W: MIKON-2002 : XIV [fourtheenth] international conference on Microwaves, radar and wireless communications : Gdańsk, Poland, May 20–22, 2002 : conference proceedings, Vol. 2 / Telecommunications Research Institute. — [Poland : TRI], [2002]. — Opis częśc. wg okł. — S. 467–471. — Bibliogr. s. 471, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Properties of the $n^{+}/i$ and $p^{+}/i a-Si:H$ junctions and photovoltaic effectivenes of $p^{+}/i/\mu c-Si$ and $n^{+}/i/\mu c-Si$ structures / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Stanisław NOWAK // W: Seventeenth European photovoltaic solar energy conference : proceedings of the international conference : Munich, Germany, 22–26 October 2001, Vol. 3 / eds. B. McNelis [et al.]. — Munich ; Florence : WIP ; ETA, 2002. — S. 2997–3000. — Bibliogr. s. 3000, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • Properties of thick film ferroelectric compositions / D. Szwagierczak, J. Kulawik, S. NOWAK, A. Marek, J. Gandurska, I. Śnieżyńska // W: 20 [Twenty] years IMAPS Poland 1982–2002 : XXVI [twenty sixth] international conference of International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter : Warsaw, 25–27 September 2002 : proceedings / ed. Ryszard Kisiel ; IMAPS. Poland Chapter. — [Poland : IMAPS. Poland Chapter], [2002]. — Opis częśc. wg okł. — S. 83–86. — Bibliogr. s. 86, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Sposób pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego i układ do pomiaru deformacji części składowych woskowego zestawu modelowego[Method for measuring deformation of a wax pattern component parts and the system for measuring deformation of a wax pattern component parts] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 411049 A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411049 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2016  nr 16, s. 33-34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL411049A1.pdf

  • słowa kluczowe: deformacja, pomiar, odlewanie precyzyjne, woskowy model odlewniczy, woskowy zestaw modelowy, ceramiczna forma odlewnicza, skanowanie 3D

    keywords: deformation, measurement, investment casting, ceramic mould, wax pattern, 3D scanning, wax assembly

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • Sposób pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej i układ do pomiaru rozkładu grubości ścianki ceramicznej zamkniętej formy odlewniczej[Method for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses and the system for measuring distribution of the closed foundry mould ceramic wall thicknesses] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: ŻABA Krzysztof, NOWAK Stanisław, KWIATKOWSKI Michał, NOWOSIELSKI Maciej, KITA Paweł. — Int.Cl.: G01B 11/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 411050 A1 ; Opubl. 2016-08-01. — Zgłosz. nr P.411050 z dn. 2015-01-23 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; ISSN 0137-8015 ; 2016  nr 16, s. 34. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL411050A1.pdf

  • słowa kluczowe: pomiar, odlewanie precyzyjne, woskowy model odlewniczy, woskowy zestaw modelowy, ceramiczna forma odlewnicza, grubość ścianki, skanowanie 3D

    keywords: measurement, investment casting, ceramic mould, wax pattern, wall thickness, 3D scanning, wax assembly

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Termiczny miernik natężenia przepływu benzyny[Thermal flowmeter for gasoline] / Zbigniew MAGOŃSKI, Stanisław NOWAK // W: KKE'2003 : II Krajowa Konferencja Elektroniki : Kołobrzeg 9–12 czerwca 2003 : materiały konferencji, T. 2/2. — Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003 + CD-ROM. — ISBN10: 837365030X. — S. 579–584. — Bibliogr. s. 584, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Walcarka pielgrzymowa do wytwarzania rur na zimno[Pipe cold rolling pilger mill] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Jan OSIKA, Czesław Boberek, Adam Machnik, Stanisław NOWAK [et al.] Andrzej PIETRZAK. — Int.Cl.: B21B 21/06\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 209443 B1 ; Udziel. 2011-03-24 ; Opubl. 2011-09-30. — Zgłosz. nr P.375655 z dn. 2005-06-09. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL209443B1.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • Zastosowanie promieniowania UV w technologii warstw grubych światłoczułychThe application of UV radiation in photoimageable thick film technology / Barbara DZIURDZIA, Stanisław NOWAK, Wojciech Gregorczyk, Bogdan Lesiuk // W: UVR : promieniowanie UV : oddziaływania, pomiary, zagrożenia i zastosowania : konferencja naukowo-techniczna : 19–20.IX 2002 Warszawa / Instytut Elektroniki. Zakład Technik i Systemów Oświetlenia ; Główny Urząd Miar ; Polski Komitet Oświetleniowy. — [Polska. : s. n.], [2002]. — S. 167–176. — Bibliogr. s. 176, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: