Wykaz publikacji wybranego autora

Halina Czternastek, mgr inż.

specjalista

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 56632653000




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 26, z ogólnej liczby 27 publikacji Autora


1
  • Antireflective coatings of $a-Si:C:H$ on silicon / B. SWATOWSKA, H. CZTERNASTEK, M. Lipiński, T. STAPIŃSKI, K. ZAKRZEWSKA // W: XXVIII International conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Wrocław, 26–29 September 2004 : proceedings / eds. Andrzej Dziedzic, Leszek Golonka, Małgorzata Kramkowska ; IMAPS Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS Poland Chapter, 2004. — Na grzbiecie dodatkowo tyt.: XXVIII Conference of IMAPS Poland Chapter, Wrocław, 2004. — S. 385–388. — Bibliogr. s. 388, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Application of silicon nitride for silicon solar cells / Marek Lipiński, Paweł Zięba, Piotr Panek, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Halina CZTERNASTEK, Adam Szyszka, Bogdan Paszkiewicz // W: IMAPS Poland : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko 18–21 September 2005 : proceedings / eds. Piotr Majchrzak [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. — S. 203–206. — Bibliogr. s. 206, Abstr.. — Toż na dołączonym CD-ROM-ie

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Diffuse scattering in polyazomethine thin films / Janusz Jaglarz, Jan Cisowski, Halina CZTERNASTEK, Jan Jurusik, Marian Domański // Polimery ; ISSN 0032-2725. — 2009 t. 54 nr 1, s. 15–18. — Bibliogr. s. 18, Summ.

  • keywords: polymer layers, thin film optics, polyazomethine, diffuse reflectance and transmittance

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Effect of deposition geometry on structural, electrical and optical properties of $ZnO:Al$ films by magnetron sputtering / H. CZTERNASTEK // W: KKTP 2005 : VII Krajowa Konferencja Techniki Próżni : 18–21 września 2005 Cedzyna k/Kielc : program i streszczenia prac / Polskie Towarzystwo Próżniowe, Przemysłowy Instytut Elektroniki, Politechnika Warszawska IMiO. — [Polska. : s. n.], [2005]. — S. [1], P-3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Effect of deposition geometry on structural, electrical and optical properties of ${ZnO:Al}$ films by magnetron sputtering / Halina CZTERNASTEK // W: ELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — ISBN10: 83-88309-46-3. — S. 196

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Effect of deposition geometry on structural, electrical and optical properties of $ZnO:Al$ films by magnetron sputtering / Halina CZTERNASTEK // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 994–997. — Bibliogr. s. 997, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-17. — Proceedings of the 9th Electron technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008. — Zastosowano procedurę peer review. — tekst: http://goo.gl/wUUwWf

  • keywords: reactive magnetron sputtering, transparent oxides, Al-doped zinc oxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.036

8
  • Effect of the electrical resistivity on the photoelectrochemical response of wide band gap semiconductors / M. RADECKA, A. TRENCZEK-ZAJĄC, H. CZTERNASTEK, K. ZAKRZEWSKA // W: NANOSMAT [Dokument elektroniczny] : 6th NANOSMAT conference : Kraków, Poland, 17–20th October 2011 : abstracts book / eds. N. Ali, S. Mitura. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : NANOSMAT], [2011]. — 1 dysk optyczny. — S. 75. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Graded ${SiO_{x}N_{y}}$ layers as antireflection coatings for solar cells application / M. Lipiński, S. KLUSKA, H. CZTERNASTEK, P. Zięba // Materials Science (Poland) / Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology ; ISSN 0137-1339. — 2006 vol. 24 no. 4, s. 1009–1016. — Bibliogr. s. 1015–1016. — Intermolecular and magnetic interactions in matter : Nałęczów 8–10 September 2005 : conference / guest eds. Jan M. Olchowik, Wojciech Sadowski, Nikos Guskos ; Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology. — [Wrocław] : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2006

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Influence of deposition temperature of ${TiO_{2}}$ on crystalline silicon solar cell parameters / Piotr Panek, Kazimierz Drabczyk, Paweł Zięba, Halina CZTERNASTEK, Edward KUSIOR // W: IMAPS Poland : XXXI international conference and exhibition IMAPS Poland 2007 : 23–26 September 2007, Rzeszów–Krasiczyn : proceedings / eds. Jerzy Potencki, Dariusz Klepacki, Alicja Bednarczyk ; International Microelectronics and Packing Society. Poland Chapter. — Rzeszów : University of Technology, [2007] + CD-ROM. — Na okł. dod.: IMAPS Poland 25 years. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-917701-4-6. — S. 205–208. — Bibliogr. s. 208, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Investigation of white standards by means of bidirectional reflection distribution function and integrating sphere methods / Janusz Jaglarz, Ryszard Duraj, Przemysław Szopa, Jan Cisowski, Halina CZTERNASTEK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2006 vol. 36 no. 1, s. 97–103. — Bibliogr. s. 103. — tekst: https://goo.gl/qXXhVW

  • keywords: color measurements, white standards, optical scattering

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Krzemowe polikrystaliczne ogniwa słoneczne z warstwą antyrefleksyjną z azotku krzemuMulticrystalline silicon solar cells with silicon nitride antireflection coating / Marek Lipiński, Paweł Zięba, Piotr Panek, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Mariusz SOKOŁOWSKI, Halina CZTERNASTEK // W: ELTE 2004 : VIII konferencja naukowa „Technologia elektronowa” : Stare Jabłonki, 19–22. 04. 2004 : materiały konferencyjne / red. nauk. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska. — Aleksandrów Łódzki : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2005. — S. 559–562. — Bibloigr. s. 562

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Macroporous texturing of multicrystalline silicon for solar cells / Marek Lipiński, Mariusz SOKOŁOWSKI, Halina CZTERNASTEK // W: ELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — ISBN10: 83-88309-46-3. — S. 110. — Bibliogr. s. 110

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • Macroporous texturing of multicrystalline silicon for solar cells / Marek Lipiński, Mariusz SOKOŁOWSKI, Halina CZTERNASTEK, Elżbieta Bielańska // W: ELTE'07 [Dokument elektroniczny] : IX konferencja naukowa „Technologia elektronowa" ELTE 2007 : Kraków 4–7.09.2007 : materiały konferencyjne / red. nauk. Tomasz Stapiński, Barbara Swatowska, Katarzyna Zakrzewska, Wojciech Maziarz ; Katedra Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej im. S. Staszica w Krakowie. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s n.], [2008]. — 1 dysk optyczny. — ISBN10: 83-88309-51-X. — S. 105–108. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 108. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • Microprocessor aided deposition of ZnO films by D. C. magnetron sputtering / Halina CZTERNASTEK, Mariusz SOKOŁOWSKI // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 406–407. — Bibliogr. s. 407

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
17
  • Modelowanie tylnego lustra Al/Ag/ZnO/Si w cienkowarstwowym krzemowym ogniwie słonecznym[Al/Ag/ZnO/Si back electrode simulation in silicon thin film solar cells] / A. KOŁODZIEJ, H. CZTERNASTEK, W. BARANOWSKI, M. SOKOŁOWSKI // W: I Krajowa konferencja fotowoltaiki [Dokument elektroniczny] : Krynica Zdrój, 9–11 października 2009. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], [2009]. — 1 dysk optyczny. — Projekt nr UDA-POKL.04.02.00-00-053/08-00 „Upowszechnianie osiągnięć polskiej oraz światowej fotowoltaiki w  procesie kształcenia na poziomie wyższym”. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [5–6], Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Multicrystalline silicon solar cells with silicon nitride antireflection coating : abstract / Marek Lipiński, Paweł Zięba, Piotr Panek, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Mariusz SOKOŁOWSKI, Halina CZTERNASTEK // W: ELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 316–317. — Bibliogr. s. 317

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • Optical and microstructural properties of graded porous silicon layerOptyczne i mikrostrukturalne własności gradientowej warstwy z porowatego krzemu / M. Lipiński, H. CZTERNASTEK, M. SOKOŁOWSKI, P. Panek // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2005 vol. 50 iss. 2 spec. iss., s. 387–393. — Bibliogr. s. 393. — SOTAMA-FGM : Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials : October 3–7, 2004, Kraków, Poland. — tekst: http://www.imim.pl/files/archiwum/Vol2_2005/nr_2_2005%2012.pdf

  • słowa kluczowe: porowaty krzem, warstwa przeciodblaskowa

    keywords: porous silicon, antireflection coating, graded layer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
21
  • PE CVD deposition of amorphous ${a-Si_{x}N_{y}:H}$ layers on polycrystalline silicon / Maria JURZECKA, Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Halina CZTERNASTEK, Katarzyna ZAKRZEWSKA // W: ELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — ISBN10: 83-88309-46-3. — S. 257

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
23
  • RF PE CVD deposition of amorphous a-$Si_{x}N_{y}:H$ layers for application in solar cells / Maria JURZECKA, Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Halina CZTERNASTEK, Katarzyna ZAKRZEWSKA // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1128–1132. — Bibliogr. s. 1132, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-08. — Proceedings of the 9th Electron Technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008. — Zastosowano procedurę peer review. — tekst: http://goo.gl/ZWJEX9

  • keywords: solar cells, optical properties, amorphous a-SixNy:H layers, RF CVD method

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.030

24
  • The influence of surface modification on crystalline silicon solar cells / Marek Lipiński, Piotr Panek, Halina CZTERNASTEK // Molecular Physics Reports ; ISSN 1505-1250. — 2002 vol. 36, s. 123–126. — Bibliogr. s. 126, Abstr.. — Proceedings of the 6th international conference on Intermolecular interactions in matter : September 10–13, 2001 Gdańsk, Poland / eds. Wojciech Sadowski, Jan M. Olchowik ; Faculty of Applied Physics and Mathematics of the Technical University of Gdańsk, Institute of Physics of the Technical University of Lublin, Polish Society for Crystal Growth. — [Poznań] : Ośrodek Wydawnictw Naukowych, 2002

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • The influence of surface texture and temperature deposition of $TiO_{2}$ layer on crystalline silicon solar cells parametersWpływ tekstury powierzchniowej i temperatury osadzania warstwy $TiO_{2}$ na parametry krzemowych krystalicznych ogniw słonecznych / P. Panek, K. Drabczyk, H. CZTERNASTEK, E. KUSIOR, P. Zięba, E. Bełtowska-Lehman // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 103–106. — Bibliogr. s. 106. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008. — Zastosowano procedurę peer review. — tekst: http://www-1imim-1pl-1atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/files/archiwum/Vol1_2008/artykuly/16_.pdf

  • keywords: titanium dioxide, antireflection coating, crystalline silicon solar cell

    cyfrowy identyfikator dokumentu: