Bandgap voltage reference and temperature sensor in novel SOI technology / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Marek IDZIK, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Piotr Kapusta, Yasuo Arai, Toshinobu Miyoshi, Ayaki Takeda // W: ICSES 2014 [Dokument elektroniczny] : International Conference on Signals and Electronic Systems : Poznań, Poland, 11–13 September 2014 : international conference / Faculty of Electronics and Telecommunications. Poznan University of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poznan : University of Technology], [2014]. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-4799-7009-4. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [4], Abstr.. — Tekst dostępny również on-line: {http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp==6948708}. — ISBN978-1-4799-7009-4

Characterization of high resolution CMOS monolithic active pixel detector in SOI technology / M. I. AHMED, Y. Arai, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. Kapusta, T. Miyoshi, A. Takeda, M. Turala // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2015 vol. 10 iss. 5 art. no. P05010, s. [1], P05010-1–P05010-16. — Bibliogr. s. P05010-15–P05010-16, Abstr.. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/10/05/P05010/pdf/1748-0221_10_05_P05010.pdf

Characterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $\mu$m technology / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik // W: MIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20\textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — Opis wg okł.. — ISBN: 978-836357801-5. — S. 95. — Abstr.. — Pełny tekst W: Mixdes 2013 [Dokument elektroniczny] : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : proceedings of the 20\textsuperscript{th} international conference : Gdynia, Poland, 20–22 June 2013 / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Łódź : University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — S. 360–364. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. Tytuł przejęto ze s. tyt. — Bibliogr. s. 364, Abstr. — ISBN 978-83-63578-00-8

Compensation of the temperature fluctuations in the silicon photomultiplier measurement system / Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR // W: MIXDES 2012 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : proceedings of the 19\textsuperscript{th} international conference : Warsaw, Poland 24–26 May, 2012 / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Technical University of Łódź, 2012. — 1 dysk optyczny. — ISBN 978-8-39320-756-5. — e-ISBN: 978-83-62954-43-8. — S. 300–303. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 303, Abstr.. — Tytuł przejęto z ekranu tyt.

Design and simulations of the 10-bit SAR ADC in novel sub-micron technology 200 nm SOI CMOS / Roma Dasgupta, Szymon Bugiel, Sebastian GŁĄB, Marek IDZIK, Jakub MOROŃ, Piotr Kapusta // W: MIXDES 2014 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : Lublin, Poland June 19–21, 2014 : proceedings of the 21\textsuperscript{st} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2014. — 1 dysk optyczny. — na s. red. dod. ISBN 978-83-63578-04-6. — e-ISBN: 978-83-63578-03-9. — S. 175–179. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 179, Abstr.

Development of pixel detector in novel sub-micron technology SOI CMOS 200 nm / Szymon Bugiel, Roma Dasgupta, Sebastian GŁĄB, Marek IDZIK, Piotr Kapusta // W: MIXDES 2014 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : Lublin, Poland June 19–21, 2014 : proceedings of the 21\textsuperscript{st} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2014. — 1 dysk optyczny. — na s. red. dod. ISBN 978-83-63578-04-6. — e-ISBN: 978-83-63578-03-9. — S. 205–208. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 208, Abstr.

Development of SOI pixel detector in Cracow / Sz. BUGIEL, R. DASGUPTA, S. GŁĄB, M. IDZIK, J. MOROŃ, P. Kapusta, W. KUCEWICZ, M. Turala // W: SOIPIX2015 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the international workshop on SOI Pixel detector : Sendai, Japan, June 3–6, 2015 / ed. by Akimasa Ishikawa. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Japan : s. n.], [2015]. — S. [1], 1–14. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.slac.stanford.edu/econf/C150603/papers/1507.00864.pdf [2016-11-07]. — Bibliogr. s. 13–14

Digital library created to facilitate design of SOI detectors in Lapis Semiconductor 0.2 $\mu$m SOI technology — Biblioteka cyfrowa stworzona na potrzeby projektowania detektorów SOI w technologii Lapis Semiconductor 0,2 $\mu$m SOI / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Zbigniew KORZEŃ, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK // W: FIMB 2012 [Dokument elektroniczny] : Forum Innowacji Młodych Badaczy : [16–17 listopada 2012, Łódź] / red. Sławomir Wiak. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2012. — ISSN 2082-4831. — S. 17–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.fimb.p.lodz.pl/wp-content/uploads/2013/01/FIMB-v1.1.pdf [2013-10-28]. — Bibliogr. s. 19–20, Abstr., Streszcz.

Fluorescence detection in microfluidics systems — Detekcja fluorescencji w układach mikrofluidycznych / Rafał Szczypiński, Łukasz MIK, Jerzy Kruk, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Dorota G. Pijanowska, Wojciech KUCEWICZ // Przegląd Elektrotechniczny = Electrical Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich ; ISSN 0033-2097. — 2012 R. 88 nr 10b, s. 88–91. — Bibliogr. s. 91, Abstr., Streszcz.. — tekst: http://www.sigma-not.pl/download.do?mode=sps&id=71358

Four channels data acquisition system for silicon photomultipliers — Czterokanałowy system akwizycji danych dla krzemowych fotopowielaczy / Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 12, s. 28–31. — Bibliogr. s. 31, Streszcz., Summ.. — tekst: http://www.sigma-not.pl/download.do?mode=sps&id=64769

Front-end electronics with fast signal shaper for Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, R. Calabrese, A. Cotta Ramusino, E. Luppi, R. Malaguti // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/zrUkiF

Fully differential Charge to Time Converter and fast shaper readout circuit with gain compensation for SiPM / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR // W: 2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : Oct. 31–Nov. 7 2015, [San Diego, California]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2015]. — e-ISBN: 978-1-4673-9862-6. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-10-06. — tekst: https://goo.gl/GoiJpi

Gain compensation technique by bias correction in arrays of Silicon Photomultipliers using fully differential fast shaper / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2016 vol. 824, s. 85–86. — Bibliogr. s. 86, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2015-10-19. — Ł. Mik - dod. afiliacja: State Higher Vocational School, Tarnow. — Frontier detectors for frontier physics : 13th Pisa meeting on Advanced detectors : 24–30 May 2015 : La Biodola, Isola d'Elba, Italy. — tekst: http://goo.gl/PaQIHw

Low intensity fluorescence light measurements using silicon photomultiplier with dedicated front-end ASIC / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, Ł. MIK, W. KUCEWICZ, D. G. Pijanowska, R. Szczypiński // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2 2013, Seoul, Korea. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, [2013]. — ISBN: 978-1-4799-0533-1. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6829205 [2014-09-17]. — Dod. ISBN 978-1-4799-0534-8

Method of signal detection from silicon photomultipliers using fully differential Charge to Time Converter and fast shaper / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2016 vol. 824, s. 248–250. — Bibliogr. s. 250, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2015-10-24. — Ł. Mik - dod. afiliacja: State Higher Vocational School, Tarnow. — Frontier detectors for frontier physics : 13th Pisa meeting on Advanced detectors : 24–30 May 2015 : La Biodola, Isola d'Elba, Italy. — tekst: http://goo.gl/W7EicI

Method of temperature fluctuations compensation in the silicon photomultiplier measurement system — Metoda kompensacji zmian temperatury w systemach pomiarowych zawierających krzemowe fotopowielacze / Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2012 R. 53 nr 7, s. 64–67. — Bibliogr. s. 67, Streszcz., Summ.. — 5th MRW 2012 : Microwave and Radar Week : 21–26 May 2012, Warsaw, Poland

Microflow measurements of antibodies fluorescence using Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [2], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/W7mEOL

Prototype pixel detector in the SOI technology / M. I. AHMED, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. J. Kapusta, M. Turala // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2014 vol. 9 no. 2, s. [1], 1–8 article no. C02010. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Topical workshop on Electronics for particle physics 2013 : 23–27 September 2013, Perugia. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/9/02/C02010/pdf/1748-0221_9_02_C02010.pdf

Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology / S. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.] // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/qBuhGX

Reactive magnetron sputtering control system based on two-channel optical emission spectroscopy / Sebastian GŁĄB, Andrzej BRUDNIK, Katarzyna ZAKRZEWSKA // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10\textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34\textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 141. — Pełny tekst W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th electron technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic [et al.]. — Wrocław : University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. 1–4. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 4, Abstr. — ISBN 978-83-917701-9-1

Reduction of silicon photomultipliers thermal generation in self-coincidence system applied in low level light measurements / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK // Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences ; ISSN 0239-7528. — 2014 vol. 62 no. 3, s. 505–510. — Bibliogr. s. 510, Abstr.. — tekst: http://www.degruyter.com/dg/viewjournalissue.articlelist.resultlinks.fullcontentlink:pdfeventlink/$002fj$002fbpasts.2014.62.issue-3$002fbpasts-2014-0054$002fbpasts-2014-0054.pdf?t:ac=j$002fbpasts.2014.62.issue-3$002fissue-files$002fbpasts.2014.62.issue-3.xml

Self-calibrating gain stabilization method for applications using silicon photomultipliers / Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4799-3423-2. — S. [1–3]. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Dostęp również online: {http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=6829805} [2014-09-17]. — Dod. ISBN 978-1-4799-0534-8 ; 978-1-4799-0533-1

Self-coincidence system for cosmic ray measurements using silicon photomultipliers — System z wewnętrznym układem koincydencji do pomiarów promieniowania kosmicznego wykorzystujący krzemowe fotopowielacze / Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR // W: FIMB 2012 [Dokument elektroniczny] : Forum Innowacji Młodych Badaczy : [16–17 listopada 2012, Łódź] / red. Sławomir Wiak. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Łódź : Politechnika Łódzka, 2012. — ISSN 2082-4831. — S. 7–11. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.fimb.p.lodz.pl/wp-content/uploads/2013/01/FIMB-v1.1.pdf [2013-10-28]. — Bibliogr. s. 11, Abstr., Streszcz.

Silicon photomultiplier as fluorescence light detector / Łukasz Mik, Wojciech KUCEWICZ, Jerzy Barszcz, Maria SAPOR, Sebastian GŁĄB // W: MIXDES 2011 : mixed design of integrated circuits and systems : 18\textsuperscript{th} international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June, 2011 : book of abstracts / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science, cop. 2011. — S. 169. — Pełny tekst W: MIXDES 2011 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : proceedings of the 18th international conference : Gliwice, Poland, 16–18 June 2011. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland : Technical University of Łódź. Department of Microelectronics & Computer Science], cop. 2011. — S. 663–666. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 666, Abstr. — ISBN 978-83-932075-0-3

Silicon photomultiplier as fluorescence light detector — Krzemowy fotopowielacz jako detektor światła fluorescencyjnego / Łukasz Mik, Wojciech KUCEWICZ, Jerzy Barszcz, Maria SAPOR, Sebastian GŁĄB // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 12, s. 61–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Summ.