Wykaz publikacji wybranego autora

Edward Kusior, dr

adiunkt

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 35, z ogólnej liczby 35 publikacji Autora


1
2
3
4
  • Electrodeposition of ZnTe semiconductor thin films from aqueous complex solutions : [poster] / E. Bełtowska-Lehman [et al.], E. KUSIOR // W: SOTAMA-FGM : Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials : 3–7 October 2004 Kraków, Poland : symposium programme and book of abstracts / [Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science]. — [Kraków : s. n.], [2004]. — S. 46, P1

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
7
8
  • Influence of Cr on structural and optical properties of ${TiO_{2}:Cr}$ nanopowders prepared by Flame Spray Synthesis (FSS) / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, M. Jasiński, K. A. MICHAŁÓW, M. RĘKAS, E. KUSIOR, K. ZAKRZEWSKA, A. Heel, T. Graule // W: XI Symposium on Fast ionic conductors : 14–17 September 2008, Grybów, Poland : book of abstracts = Przewodniki szybkich jonów. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 115–116. — Bibliogr. s. 116

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • Influence of deposition temperature of ${TiO_{2}}$ on crystalline silicon solar cell parameters / Piotr Panek, Kazimierz Drabczyk, Paweł Zięba, Halina CZTERNASTEK, Edward KUSIOR // W: IMAPS Poland : XXXI international conference and exhibition IMAPS Poland 2007 : 23–26 September 2007, Rzeszów–Krasiczyn : proceedings / eds. Jerzy Potencki, Dariusz Klepacki, Alicja Bednarczyk ; International Microelectronics and Packing Society. Poland Chapter. — Rzeszów : University of Technology, [2007] + CD-ROM. — Na okł. dod.: IMAPS Poland 25 years. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-917701-4-6. — S. 205–208. — Bibliogr. s. 208, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • Kontrola procesu reaktywnego rozpylania magnetronowego w układzie $Ti-O_{2}$[Control of magnetron reactive sputtering in $Ti-O_{2}$ composition] / Andrzej BRUDNIK, Adam CZAPLA, Edward KUSIOR, Witold Posadowski // W: TJ'99 : Techniki Jonowe : VI ogólnopolskie seminarium : Szklarska Poręba 3–5 marca 1999 r. / Politechnika Wrocławska. Instytut Techniki Mikrosystemów. — [Wrocław : PW], [1999]. — ISBN10: 83-7085-438-9. — S. 43–46. — Bibliogr. s. 46, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Makro i mikroskopowe naprężenia własne miedzianych powłok na podłożu mosiądzu[Makro- and microscopic residual stresses of copper coastings on the brass substrate] / Stanisław SKRZYPEK, Joanna KOWALSKA, Edward KUSIOR, Marcin GOŁY // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 161–162. — Bibliogr. s. 162

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Microstructure of $TiO_{2-x}$ thin films reactively sputtered by DC magnetron / K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. RADECKA, A. Kowal // W: Surface Engineering: in materials science I : proceedings of a symposium by the TMS Surface Modification & Coatings Technology Committee (SMC) and the Materials Processing and Manufacturing Division (MPMD), held during the 2000 TMS Annual Meeting : Nashville, Tennessee March 12–16, 2000 / ed. Sudipta Seal [et al.]. — Warrendale : The Minerals, Metals & Materials Society, 2000. — (A Publication of TMS). — ISBN10: 0-87339-471-2. — S. 163–172. — Bibliogr. s. 172, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
14
  • Opracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych opartej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padaniaMacro-residual stresses in tin coatings – measurement based on the $sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Problemy Eksploatacji = Maintenance Problems ; ISSN 1232-9312. — 2000 nr 2, s. 313–333. — Bibliogr. s. 330–332, Streszcz., Summ.. — Inżynieria Powierzchni 2000 : 3 ogólnopolska konferencja naukowa : 2000, Radom–Kazimierz Dolny, Polska

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
16
  • Pomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania – metoda g-$\sin^{2}\psi$Macro-residual stresses – measurements based on the g-$\sin^{2}\psi$ method due to grazing angle incidence X-ray scattering geometry / Stanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Nauki Techniczne: Mechanika. — 2000 [z.] 72, s. 463–470. — Bibliogr. s. 468–469, Streszcz., Summ.. — Problemy metaloznawstwa w technice XXI wieku : konferencja / kom. nauk. Jan Adamczyk [et al.]. — Kielce : Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej, 2000

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • Pomiary naprężeń w warstwie wierzchniej stali duplex metodą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego $g-sin^{2}\psi$Residual stress measurements in duplex steel surface layers by $g-sin^{2}\psi$ X-ray diffraction method / Agnieszka Ossowska, Jerzy Łabanowski, Edward KUSIOR // Materiały i Technologie : Roczniki Naukowe Pomorskiego Oddziału Polskiego Towarzystwa Materiałoznawczego ; ISSN 1731-223X. — 2006 nr 4, s. 169–177. — Bibliogr. s. 177, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
19
  • Residual macrostresses of metal plates after laser forming / S. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
  • Silicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices / T. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA // W: X-top 2002 : 6\textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206. — Bibliogr. P126 s. 206

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • Structural and electrical properties of magnetron sputtered Ti(ON) thin films: the case of TiN doped {\em in situ} with oxygen / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, S. Bourgeois, M. C. Marco de Lucas, L. Imhoff // W: XI Symposium on Fast ionic conductors : 14–17 September 2008, Grybów, Poland : book of abstracts = Przewodniki szybkich jonów. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 55–56. — Bibliogr. s. 56

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
23
  • Structural and optical properties of $Ti-N-O$ thin films prepared by dc-pulsed magnetron sputtering / A. TRENCZEK-ZAJĄC, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, S. Bourgeois, M. Marco de Lucas, L. Imhoff // Annales de Chimie Science des Matériaux ; ISSN 0151-9107. — 2008 vol. 33 suppl. 1, s. 149–156. — Zastosowano procedurę peer review. — 15th French-Polish seminar on Reactivity of solids : June 30–July 2, 2008, Dijon, France / eds. Florence Baras [et al.]. — Paris : Editions Scientifiques Medicales Elsevier, 2008

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
  • Structural and optical properties of ${Ti-N-O}$ thin films prepared by dc magnetron sputtering : [abstract] / A. TRENCZEK-ZAJĄC, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. RADECKA, K. ZAKRZEWSKA, M. C. Marco de Lucas, L. Imhoff, S. Bourgeois // W: “Reactivity of solids” : 15\textsuperscript{th} French-Polish seminar : June 30–July 2, 2008, Dijon, France / Université de Bourgogne, AGH University of Science and Technology. — [France : s. n.], [2008]. — S. [1]. — Bibliogr. s. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • Structural properties of CdS/ZnO bilayers for photovoltaic purposes / Elżbieta SCHABOWSKA-OSIOWSKA, Henryk JANKOWSKI, Teresa KENIG, Edward KUSIOR, Tadeusz PISARKIEWICZ // W: IMAPS Poland : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko 18–21 September 2005 : proceedings / eds. Piotr Majchrzak [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. — S. 247–250. — Bibliogr. s. 250, Abstr.. — Toż. W: IMAPS Poland [Dokument elektroniczny] : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko, 18–21 September  2005 : proceedings. - Wersja do Windows. - Dane tekstowe / eds. Zbigniew Suszyński [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. - [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. - 1 dysk optyczny. - S. 247–250. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. - Bibliogr. s. 250, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: