Wykaz publikacji wybranego autora

Radosław Chmielowski, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 9, z ogólnej liczby 9 publikacji Autora


1
  • Microstructure of ${Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ thin films and ${Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_{3}O_{12}/Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ bilayers / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85225-4. — S. 347–348. — Bibliogr. s. 348

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • Structural analyses of the thin films $CeO_{2}$ doping Cu / M. KLIMCZAK, A. KOPIA, R. CHMIELOWSKI, J. KUSIŃSKI, I. SULIGA // W: XI International conference on Electron microscopy of solids : Krynica, Poland, 19–23 May 2002 : abstracts / org.: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences, Microscopy Section of Committee on Materials Science of Polish Academy of Sciences, Polish Materials Society. — [Poland : PAS], [2002]. — S. 123

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Structural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films deposited by laser ablationAnaliza struktury cienkich warstw $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ otrzymanych techniką ablacji laserowej / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2006 vol. 51 iss. 1 spec. iss., s. 83–86. — Bibliogr. s. 86. — MicroCEM : workshop on “Progress in Microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland / eds.: Ewa Bełtowska, Marek Faryna, Krzysztof Sztwiertnia ; Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. Kraków, Poland. — Warszawa, Kraków : PAS, 2006

  • keywords: pulsed laser deposition, strontium ruthenate, FeRAM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Structural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films elaborated by laser ablation technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul // W: microCEM : workshop on “Progress in microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Krakow : Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2005. — S. 41, P 11

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • TEM microstructure investigation of ferroelectric and conductive oxide thin films obtained by pulsed laser deposition technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: IMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1753

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
  • Wybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałówSelected research methods of structure and properties of thin films and material surfaces / Jan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Radosław CHMIELOWSKI // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2004 R. 71 nr 3, s. 120–128. — Bibliogr. s. 128

  • słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja

    keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu

    cyfrowy identyfikator dokumentu: