Wykaz publikacji wybranego autora

Radosław Chmielowski, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 3, z ogólnej liczby 3 publikacji Autora


1
  • Microstructure of ${Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ thin films and ${Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_{3}O_{12}/Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ bilayers / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85225-4. — S. 347–348. — Bibliogr. s. 348

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Structural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films deposited by laser ablationAnaliza struktury cienkich warstw $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ otrzymanych techniką ablacji laserowej / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2006 vol. 51 iss. 1 spec. iss., s. 83–86. — Bibliogr. s. 86. — MicroCEM : workshop on “Progress in Microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland / eds.: Ewa Bełtowska, Marek Faryna, Krzysztof Sztwiertnia ; Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. Kraków, Poland. — Warszawa, Kraków : PAS, 2006

  • keywords: pulsed laser deposition, strontium ruthenate, FeRAM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • TEM microstructure investigation of ferroelectric and conductive oxide thin films obtained by pulsed laser deposition technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: IMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1753

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: