Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

doktorant

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0001-9589-7786 orcid iD

ResearcherID: DRK-0070-2022

Scopus: 57216955375

1
2
3

  • Studying high carbon steel martensite tetragonality using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Marta GAJEWSKA, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA // W: AMT'2023 : Advanced Materials and Technologies : June 18th – 21st 2023, Wisła, Poland : book of abstracts / eds. Adam Skowronek, Aleksandra Kozłowska. — Katowice - Gliwice : Archives of Foundry Engineering, cop. 2023. — ISBN: 978-83-63605-57-5. — S. 55

  • keywords: martensite, EBSD, steels

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 1, Where is the Bragg angle? / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 349-360. — Bibliogr. s. 360, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-24. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5337/nb5337.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform, Bragg angles, Kikuchi bands, first derivative, lattice parameter determination, Bravais lattice type

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000134

5

  • Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 2, Offset corrections / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 361-366. — Bibliogr. s. 366, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-24. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5343/nb5343.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, lattice parameter determination, mean atomic number, automated Bragg angle determination, dynamical theory of electron diffraction, Funk transform

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000146

6

  • Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 3, Pseudosymmetry / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 367-380. — Bibliogr. s. 379-380, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-24. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5341/nb5341.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, ordered structures, electron backscatter diffraction, Funk transform, Bravais lattices, pseudosymmetry, lattice point density, lattice distortion, backscattered Kikuchi diffraction patterns, disordered structures

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000845