Wykaz publikacji wybranego autora

Szymon Kurpiel, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki
WIMiR-ksw, Katedra Systemów Wytwarzania

  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria mechaniczna

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria mechaniczna

Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0003-4787-9801 orcid iD

ResearcherID: AAK-9534-2021

Scopus: 57222758965

1

  • Evaluation of deviations for horizontal thin walls determined by optical and contact methods for milled samples of nickel alloy Inconel 625 / Szymon KURPIEL, Krzysztof ZAGÓRSKI, Jacek CIEŚLIK, Krzysztof SKRZYPKOWSKI, Witold Brostow // Applied Sciences (Basel) [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2076-3417. — 2024 vol. 14 iss. 7 art.no. 3034, s. 1–23. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 22–23 Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2024-04-04. — tekst: https://www.mdpi.com/2076-3417/14/7/3034/pdf?version=1712478653

    orcid iD

  • keywords: nickel alloy, milling, optical methods, Inconel 625, coordinate measuring machine, 3D optical scanner, contact method, deviation, adaptive milling, horizontal thin-walled sample

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jacek Cieślik, Krzysztof Zagórski, Krzysztof Skrzypkowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/app14073034

2

  • Evaluation of the surface topography and deformation of vertical thin-wall milled samples from the nickel alloy Inconel 625 / Szymon KURPIEL, Krzysztof ZAGÓRSKI, Jacek CIEŚLIK, Krzysztof SKRZYPKOWSKI, Amandyk Tuleshov // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2024 vol. 17 iss. 2 art. no. 295, s. 1-29. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 27-29, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2024-01-07. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/17/2/295/pdf?version=1704616294

    orcid iD

  • keywords: deformation, nickel alloy, roughness, milling, Inconel 625, surface topography, 3D optical scanner, deviation, waviness, vertical thin-walled sample

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jacek Cieślik, Krzysztof Zagórski, Krzysztof Skrzypkowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma17020295