doktorant
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 57202432582
A multireflection and multiwavelength residual stress determination method using energy dispersive diffraction / Marianna MARCISZKO, Andrzej BACZMAŃSKI, Manuela Klaus, Christoph Genzel, Adrian OPONOWICZ, Sebastian WROŃSKI, Mirosław WRÓBEL, Chedly Braham, Habib Sidhom, Roman WAWSZCZAK // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2018 vol. 51 iss. 3, s. 732–745. — Bibliogr. s. 744–745. — Publikacja dostępna online od: 2018-05-09. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-1r3ntz4k3007d.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1107/S1600576718004193