Wykaz publikacji wybranego autora

Oleksander Kryshtal, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6528-8821 orcid iD

ResearcherID: G-2094-2016

Scopus: 66024065553

PBN: 602b70c09543c7410626dd44

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [komunikat, 2020]
  • TytułBimetallic Au-Ni nanoparticles for catalysis applications : news from AGH-UST
    AutorzyOleksandr KRYSHTAL
    ŹródłoKMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2020 iss. 22 Summer 2020, s. 7. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/newsletter_22_20200728-155335.pdf
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [fragment monografii pokonferencyjnej, 2020]
  • TytułContact melting in Ag/Ge layered nanofilms: critical thickness and onset temperature
    AutorzyAlexey Minenkov, Aleksandr KRYSHTAL, Sergey Bogatyrenko
    ŹródłoMicrostructure and properties of micro- and nanoscale materials, films and coatings (NAP 2019) : selected articles from the international conference on Nanomaterials: applications and properties / eds. Alexander D. Pogrebnjak, Oleksandr Bondar. — Singapore : Springer Nature Singapore Pte Ltd., cop. 2020. — S. 287–295
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-981-15-1742-6_27

3
  • [referat, 2020]
  • TytułEffect of electron beam irradiation in TEM on the local temperature of Au-Ge nanoparticle
    AutorzyM. MIELCZAREK, J. PAWLAK, A. KRYSHTAL
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 110
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [referat, 2020]
  • TytułIn situ TEM study of kinetics of Ag-induced crystallization of amorphous Ge films
    AutorzyAleksandr KRYSHTAL, Sergiy Bogatyrenko, Paulo Ferreira
    ŹródłoICTF JVC 2020 [Dokument elektroniczny] : 18th International Conference on Thin Films & 18th Joint Vacuum Conference : 22–26 November 2020, Budapest, Hungary : full online conference : book of abstracts. — [Budapest : Hungarian Vacuum Society ; Union for Vacuum Science, Technique and Applications], [2020]. — S. 79
  • keywords: phase transformations, nucleation, metal induced crystallization, EELS, metastable phases, in situ HR (S)TEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
7
8
9
10