Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

profesor nadzwyczajny

Academic Centre for Materials and Nanotechnology
ACMIN-zim

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [article, 2020]
  • TytułAbsolute structure from scanning electron microscopy
    AutorzyUlrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN
    ŹródłoScientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s41598-020-59854-y

2
  • [article, 2023]
  • TytułActive sites of Te-hyperdoped silicon by hard x-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyMoritz Hoesch, Olena Fedchenko, Mao Wang, Christoph Schlueter, Dmitrii Potorochin, Katerina Medjanik, Sergey Babenkov, Anca S. Ciobanu, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Shengqiang Zhou, Manfred Helm, Gerd Schönhense
    ŹródłoApplied Physics Letters. — 2023 vol. 122 iss. 25 art. no. 252108, s. 252108-1–252108-6. — tekst: https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/doi/10.1063/5.0148430/18016135/252108_1_5.0148430.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1063/5.0148430

3
4
5
6
7
8
  • [article, 2021]
  • TytułCorrelating crystallographic orientation and ferroic properties of twin domains in metal halide perovskites
    AutorzyYongtao Liu, Patrick Trimby, Liam Collins, Mahshid Ahmadi, Aimo WINKELMANN, Roger Proksch, Olga S. Ovchinnikova
    ŹródłoACS Nano. — 2021 vol. 15 iss. 4, s. 7139–7148. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw91w00ab.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acsnano.1c00310

  • keywords: piezoelectricity, crystallographic orientation, ferroelectricity, electron backscatter diffraction, metal halide perovskites, piezoresponse force microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsnano.1c00310

9
  • [article, 2022]
  • TytułCorrelation of heterogeneous local martensite tetragonality and carbon distribution in high carbon steel
    AutorzyThomas Kohne, Alexander Dahlström, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2022 vol. 15 iss. 19 art. no. 6653, s. 1–11. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/19/6653/pdf?version=1664359136

  • keywords: electron backscatter diffraction, martensite transformation, atom probe tomography, martensite tetragonality

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15196653

10
11
12
13
14
15
  • [article, 2020]
  • TytułEmitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
    AutorzyO. Fedchenko, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense
    ŹródłoNew Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

  • keywords: silicon, photoemission, photoelectron diffraction, interstitial sites, substitutional sites, time of flight momentum microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1367-2630/abb68b

16
  • [article, 2023]
  • TytułEnantiomorph conversion in single crystals of the Weyl semimetal CoSi
    AutorzyWilder Carrillo-Cabrera, Paul Simon, Marcus Schmidt, Markus König, Horst Borrmann, Aimo WINKELMANN, Ulrich Burkhardt, Yuri Grin
    ŹródłoCommunications Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2023 vol. 4 iss. 1 art. no. 109, s. 1–9. — tekst: https://www.nature.com/articles/s43246-023-00434-8.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s43246-023-00434-8

17
18
19
  • [article, 2023]
  • TytułImaging threading dislocations and surface steps in nitride thin films using electron backscatter diffraction
    AutorzyKieran P. Hiller, Aimo WINKELMANN, Ben Hourahine, Bohdan Starosta, Aeshah Alasmari, Peng Feng, Tao Wang, Peter J. Parbrook, Vitaly Z. Zubialevich, Sylvia Hagedorn, Sebastian Walde, Markus Weyers, Pierre-Marie Coulon, Philip A. Shields, Jochen Bruckbauer, Carol Trager-Cowan
    ŹródłoMicroscopy and Microanalysis. — 2023 vol. 29 iss. 6, s. 1879–1888. — tekst: https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/6/1879/54730825/ozad118.pdf

  • keywords: SEM, dislocations, EBSD, nitrides, extended defects, thin film semiconductors

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1093/micmic/ozad118

20
21
22
23
24
  • [article, 2020]
  • TytułRefined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps
    AutorzyAimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

  • keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, Kikuchi diffraction, projection center, orientation precision

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma13122816

25