Wykaz publikacji wybranego autora

Marta Gajewska, dr inż.

adiunkt

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3303-3768 orcid iD

ResearcherID: AAY-8817-2021

Scopus: 24502968400

PBN: 5e70942d878c28a0473b7a7d

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
3
4
5
6
7
  • Microstructural alterations of selected materials upon interaction with focused Ga+ ion beam / M. GAJEWSKA, G. CIOS, M. WĄTROBA, W. BEDNARCZYK, R. DZIURKA, T. KOZIEŁ, P. BAŁA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — s. 87. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: microstructure, steel, FIB, metallic glass, Ga ions

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
10
11
12
13