Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Głąb, mgr inż.

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 53881319200




1
  • [referat, 2013]
  • TytułCharacterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $mu$m technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik
    ŹródłoMIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — S. 95
  • keywords: SOI, SOI detector, transistor characterization, back gate effect, burried p-well

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2013]
  • TytułLow intensity fluorescence light measurements using silicon photomultiplier with dedicated front-end ASIC
    AutorzyM. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, Ł. MIK, W. KUCEWICZ, D. G. Pijanowska, R. Szczypiński
    Źródło2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2 2013, Seoul, Korea. — [Piscataway] : IEEE, [2013]. — S. [1–3]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2013]
  • TytułSelf-calibrating gain stabilization method for applications using silicon photomultipliers
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR
    Źródło2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — S. [1–3]
  • keywords: gain stabilization, SiPM, single photon detection

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2013.6829805