Wykaz publikacji wybranego autora

Mateusz M. Marzec, dr inż.

adiunkt

Academic Centre for Materials and Nanotechnology
ACMIN-znpm

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9834-3930 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 57132446800

PBN: 5e70942e878c28a0473b7bae

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [proceedings, 2013]
  • TytułArgon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyAndrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 9
2
  • [proceedings, 2013]
  • TytułArgon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s
    AutorzyA. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoECASIA'13 : 15th European conference on Applications of surface and interface analysis : 13textsuperscript{th} – 18textsuperscript{th} October 2013 Cagliari, Sardinia (Italy) / ed. A. Rossi, B. Elsener ; Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche Università di Cagliari, Sardinia, Italy. — [Cagliari : s. n.], [2013]. — S. 80
3
4
  • [proceedings, 2013]
  • TytułCharacterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy
    AutorzyJ. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis
    ŹródłoSIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — S. 147
5
  • [proceedings, 2013]
  • TytułDipole-dipole interactions at buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy and Secondary Ion Mass Spectrometry
    AutorzyM. M. MARZEC, A. BERNASIK, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — S. 155
6
7
  • [proceedings, 2013]
  • TytułExamination of self-assembled monolayers influence on polymer/metal interfaces by KPFM and SIMS
    AutorzyMateusz MARZEC
    ŹródłoProceedings of the ISD workshops : [Szczyrk, from 9textsuperscript{th} till 15textsuperscript{th} June 2013] / eds. Marcin Perzanowski [et al.] ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Physics and Applied Computer Science. — Kraków : FPACS AGH UST, 2013. — S. 235–238
8
9
  • [proceedings, 2013]
  • TytułOrganic thin films depth profiling with large $Ar_{n}^{+}$ cluster ion beam by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyMateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 113
10
  • [article, 2013]
  • TytułPattern replication in blends of semiconducting and insulating polymers casted by horizontal dipping
    AutorzyJakub Rysz, Monika Josiek, Mateusz M. MARZEC, Ellen Moons
    ŹródłoJournal of Polymer Science. Part B, Polymer Physics. — 2013 vol. 51 iss. 19, s. 1419–1426. — tekst: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/polb.23354/pdf
11
  • [proceedings, 2013]
  • TytułSelf-assembled monolayers influence on polymer/metal interfaces examined by means of Kelvin Probe Force Microscopy and secondary ion mass spectrometry
    AutorzyMateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 79