Wykaz publikacji wybranego autora

Joanna Stępień, dr inż.

adiunkt

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zmfn, Zakład Materiałów Funkcjonalnych i Nanomagnetyzmu

  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (50%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1547-1097 orcid iD

ResearcherID: DZW-8284-2022

Scopus: 57194612557

PBN: 5e7094b2878c28a0473c1d38

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [abstrakt w czasopiśmie, 2019]
  • TytułChanges in the structure of XAS spectra and kinetics of phase transformation for thermally oxidized titanium at different temperatures
    AutorzyK. Wojtaszek, A. Wach, K. Tyrała, M. Nowakowski, M. Zając, J. STĘPIEŃ, W. Stańczyk, J. Czapla-Masztafiak, W. M. Kwiatek, J. Szlachetko
    ŹródłoSynchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society. — 2019 vol. 18 no. 1–2, s. 56

  • keywords: biomaterials, TiO2, X-ray absorption spectroscopy, thermal oxidation, Total Electron Yield mode

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [abstrakt w czasopiśmie, 2019]
  • TytułThe first experimental results from PEEM/XAS beamline at Solaris
    AutorzyM. Zając, P. DRÓŻDŻ, [et al.], J. KORECKI, [et al.], M. SIKORA, [et al.], J. STĘPIEŃ, [et al.], M. ŚLĘZAK, T. ŚLĘZAK, [et al.]
    ŹródłoSynchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society. — 2019 vol. 18 no. 1–2, s. 37

  • keywords: synchrotron radiation, photoelectron emission microscopy, soft X-ray absorption spectroscopy

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Józef Korecki, Tomasz Ślęzak, Marcin Sikora, Michał Ślęzak, Piotr Dróżdż

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [abstrakt w czasopiśmie, 2019]
  • TytułXNLD as the means of studying near surface crystallographic structure in pristine and TM doped single crystals bismuth chalcogenides
    AutorzyJ. STĘPIEŃ, M. JURCZYSZYN, K. MAĆKOSZ, A. KOZŁOWSKI, Z. KĄKOL, M. SIKORA
    ŹródłoSynchrotron Radiation in Natural Science : Bulletin of the Polish Synchrotron Radiation Society. — 2019 vol. 18 no. 1–2, s. 50

  • keywords: XAS, XNLD, bismuth chalcogenides

    cyfrowy identyfikator dokumentu: