asystent
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Assortment of technological terms for silicon-germanium thin films in gradient configuration / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, W. BARANOWSKI. C. R. Wroński // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1137–1140. — Bibliogr. s. 1140, Abstr.. — Zastosowano procedurę peer review. — Proceedings of the 9th Electron technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0042207X08000419/pdfft?md5=7aaf630e6ce69e24aa6ceb82d117d5da&pid=1-s2.0-S0042207X08000419-main.pdf
keywords: phase diagram, amorphous silicon, silicon germanium alloy, PECVD process, UV vis IR measurements, triple-junction silicon-based solarcells
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kołodziej, Paweł Krewniak
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.031
Fabrication, characterization and modeling of thin silicon tandem cell on foil in four terminal configuration / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Witold BARANOWSKI, Tomasz KOŁODZIEJ // W: PVSC 34 [Dokument elektroniczny] : 34th IEEE Photovoltaic Specialist Conference : Philadelphia, Pennsylvania, USA : June 7 – 12, 2009 : conference proceedings / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York] : IEEE, 2009. — 1 dysk optyczny. — (Photovoltaic Specialists Conference ; ISSN 0160-8371). — ISBN: 978-1-4244-2950-9. — S. 001742–001747. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 001746–001747, Abstr.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-1-4244-2949-3 oraz zakres stron: 397–402
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kołodziej, Paweł Krewniak, Tomasz Kołodziej
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/PVSC.2009.5411449
Modeling of top amorphous cell in four-terminal configuration with poly-silicon solar cell on the base of I-V-C and QE research / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Witold BARANOWSKI, Michał Kołodziej // W: PVSC 33 [Dokument elektroniczny] : 33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference : San Diego, CA, May 11–16, 2008 : conference proceedings / IEEE, Electron Devices Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York]: IEEE, cop. 2008. — (Photovoltaic Specialists Conference ; ISSN 0160-8371). — Opis część wg. CD-ROM-u. — e-ISBN: 978-1-4244-1641-7. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego; w bazie Web of Science ISBN: 978-1-4244-1640-0 oraz zakres stron: 846-851
cyfrowy identyfikator dokumentu:
Modelowanie tylnego lustra Al/Ag/ZnO/Si w cienkowarstwowym krzemowym ogniwie słonecznym — Modeling of back mirror Al/Ag/ZnO/Si in thin silicon solar cell / Andrzej KOŁODZIEJ, Halina CZTERNASTEK, Witold BARANOWSKI, Mariusz SOKOŁOWSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2010 R. 51 nr 5, s. 95–98. — Bibliogr. s. 98, Streszcz., Summ.
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Halina Czternastek, Andrzej Kołodziej, Mariusz Sokołowski
The plasmonics front electrodes applied to thin film solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Michał KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ // W: PVSC 38 [Dokument elektroniczny] : 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference : Austin, Texas, USA, June 3–8, 2012, Vol. 2 / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA]: IEEE, cop. 2012. — Opis za IEEE Xplore. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6750498 [2014-03-17]. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — W bazie Web of Science data wydania 2013
keywords: nano structures, plasmon, thin silicon photovoltaic cells, amorphous materials
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kołodziej, Tomasz Kołodziej, Michał Kołodziej
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/PVSC-Vol2.2012.6750498
X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf
keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kołodziej, Edward Kusior, Jarosław Kanak