Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Zięba, prof. dr hab. inż.

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: brak ResearcherID: brak Scopus: brak	OPI Nauka Polska System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

wydruk:

sortowanie:

1

Equatorial aberrations in a X-ray powder diffractometer with the linear position-sensitive detector
Equatorial aberrations in a X-ray powder diffractometer with the linear position-sensitive detector / J. SŁOWIK, A. ZIĘBA // W: EPDIC 7 : 7\textsuperscript{th} European Powder Diffraction Conference : Barcelona, 20–23 May 2000. — [Barcelona : s. n.], [2000]. — S. 93

2

Jarmark Fizyczny 2000
Jarmark Fizyczny 2000 — [The Physical Fair 2000] / Andrzej ZIĘBA // Biuletyn Informacyjny Pracowników Akademii Górniczo-Hutniczej ; ISSN 1425-4271. — 2000 nr 84, s. 16

3

Modulated phases, magnetic phase diagrams, and the Lifshitz point in $MnP$ from the mean field theory
Modulated phases, magnetic phase diagrams, and the Lifshitz point in $MnP$ from the mean field theory / Andrzej ZIĘBA, Monika Słota, Mariusz Kucharczyk // Physical Review. B, Condensed Matter and Materials Physics ; ISSN 1098-0121. — Tytuł poprz.: Physical Review B : Condensed Matter. — 2000 vol. 61 no. 5, s. 3435–3449. — Bibliogr. s. 3448–3449. — Publikacja dostępna online od: 2000-02-01. — tekst: https://journals.aps.org/prb/pdf/10.1103/PhysRevB.61.3435

4

Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers
Silicon strip detectors and prospects of their application in X-ray powder diffractometers / A. ZIĘBA, W. BIAŁAS, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, M. IDZIK, B. LEŚNIEWSKA, J. KUDŁATY, J. SŁOWIK // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 16