Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • [referat w czasopiśmie, 2014]
  • TytułExamination of chemical elements partitioning between the $gamma$ and $gamma$′ phases in CMSX-4 superalloy using EDS microanalysis and electron tomography
    AutorzyAdam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoMATEC Web of Conferences [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2014 vol. 14 art. no. 11004, s. 1–5
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1051/matecconf/20141411004

3
  • [referat, 2014]
  • TytułMicrostructural characterization of nanostructured supersonic sprayed Ni-Sn coatings after wear test at elevated temperature
    AutorzyJan KUSIŃSKI, Sławomir KĄC, Kazimierz KOWALSKI, Beata DUBIEL, Stanisław DYMEK, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Sergi Dosta, Emmanuel Georgiou, Paolo Matteazzi
    ŹródłoEM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — S. 25–26
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [fragment książki, 2014]
  • TytułNanoszenie powłok $SiO_{2}$ na stali $X2CrNiMo17-12-2$ metodą elektroforezy
    AutorzyT. RATAJSKI, B. DUBIEL
    ŹródłoXLII szkoła inżynierii materiałowej : Kraków-Rytro, 23–26 IX 2014 : monografia / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, [2014]. — S. 135–137
  • słowa kluczowe: nanocząstki, elektroforeza, SEM, SiO2, skaningowa mikroskopia elektronowa

    keywords: EPD, nano particles, scanning electron microscopy, SiO2, electrophoretic deposition

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [artykuł w czasopiśmie, 2014]
  • TytułReal-time atomic scale imaging of nanostructural evolution in aluminum alloys
    AutorzySairam K. Malladi, Qiang Xu, Marijn A. van Huis, Frans D. Tichelaar, K. Joost Batenburg, Emrah Yücelen, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Henny W. Zandbergen
    ŹródłoNano Letters. — 2014 vol. 14 iss. 1, s. 384–389
  • keywords: aluminium alloys, precipitation, in situ (S)TEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/nl404565j

7
  • [referat, 2014]
  • TytułSTEM-EDS and electron diffraction investigation of TCP phases in CMSX-4 single crystal nickel-base superalloy
    AutorzyTomasz RATAJSKI, Beata DUBIEL, Grzegorz CEMPURA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — S. 289–290
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [referat, 2014]
  • TytułThe influence of high temperature annealing on the $gamma$' precipitates morphology in CMSX-4 single-crystalline nickel-base superalloy
    AutorzyTomasz RATAJSKI, Beata DUBIEL, Adam KRUK, Adam GRUSZCZYŃSKI, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — S. 299–300
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: