Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Łużny, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3419-0044 orcid iD

ResearcherID: J-4735-2018

Scopus: 55885966600

PBN: 5e709208878c28a04738ee8e

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem126136854
202022
201933
2018211
20175113
2016853
2015532
2014541
20131284
201233
201111
2010321
2009532
2008514
2007761
2006642
200512138
2004853
2003422
2002734
2001743
20009162
19997115
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem126231021
202022
2019312
201822
201755
2016817
2015514
2014514
20131212
2012312
201111
201033
2009523
200855
200777
2006624
200512381
2004826
200344
2002743
2001716
2000936
1999716
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem1267155
202022
201933
201822
2017532
2016853
2015523
2014514
20131266
2012321
201111
2010321
2009532
2008532
2007752
2006624
20051266
2004853
200344
2002743
2001752
2000945
1999734
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem1264383
202022
201933
2018211
2017532
2016835
2015514
2014514
20131248
201233
201111
2010312
200955
2008541
2007716
200666
20051266
2004835
2003422
2002725
2001725
2000927
1999743
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem12624102
202022
201933
201822
2017541
2016835
2015523
2014514
20131248
201233
201111
2010312
2009523
2008532
2007716
200666
20051212
200488
200344
200277
200177
200099
199977
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1265175
202022
201933
2018211
2017541
2016835
2015514
2014514
20131275
201233
201111
2010312
2009523
200855
2007716
200666
20051266
2004826
2003422
2002725
2001725
2000936
1999752



1
  • AC impedance and microstructure of rye starch exposed to water vapour
2
3
  • Application of genetic algorithms to model the structure of molecular crystals
4
  • Application of genetic algorithms to model the structure of molecular crystals
5
  • Argon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy
6
  • Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy
7
  • Argon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s
8
  • Badania strukturalne cienkich warstw metodą powierzchniowej dyfrakcji promieniowania synchrotronowego
9
  • Badania zjawisk samoorganizacji w cienkich warstwach kompozytów polianiliny
10
  • Badanie własności strukturalnych polialkilotiofenów metodą dynamiki molekularnej
11
  • Badanie własności strukturalnych polialkilotiofenów metodą dynamiki molekularnej
12
13
  • Challenge and adventure or twenty years of searching for the model structure of the PANI/CSA conducting polymer system
14
  • Challenge and adventure: twenty years of searching for the model structure of the polyaniline/camphorsulfonic acid conducting polymer system leading to an artificial intelligence approach
15
  • Characterisation of polyphenylene obtained from benzene – $AlCl_{3}/CuCl$/air system
16
  • Charakterystyka złącza polimer-metal metodą kelvinowskiej mikroskopii sił
17
  • Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation
18
  • Chemical stability of polymers under argon gas cluster ion beam and x-ray irradiation
19
  • Computer simulations of the structural properties of conducting polymers
20
  • Conductivity of thin polymer films containing polyaniline
21
  • Counter-ions dynamics in highly plastic and conducting compounds of poly(aniline)
22
23
  • Dendrites and pillars in spin cast blends of polyaniline or its oligomeric analogue
24
  • Dendritic structures in thin films of polymeric composites
25
  • Depth profiling and scanning near-field optical microscopy studies of phase separation in thin polymer films for solar cell applications