Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Łużny, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3419-0044 orcid iD

ResearcherID: J-4735-2018

Scopus: 55885966600

PBN: 5e709208878c28a04738ee8e

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Challenge and adventure: twenty years of searching for the model structure of the polyaniline/camphorsulfonic acid conducting polymer system leading to an artificial intelligence approach — Wyzwanie i przygoda: dwadzieścia lat poszukiwań modelu struktury polimerowego systemu przewodzącego polianilina/kwas kamforosulfonowy prowadzących do wykorzystania metod sztucznej inteligencji / Tomasz KOZIK, Maciej ŚNIECHOWSKI, Wojciech ŁUŻNY // Polimery ; ISSN 0032-2725. — 2017 t. 62 nr 11–12, s. 800–805. — Bibliogr. s. 805, Abstr., Streszcz.. — X International Conference ”X-Ray investigations of polymer structure” : Ustroń, Poland 6-9 December 2016. — tekst: https://ichp.vot.pl/index.php/p/article/view/344/348

    orcid iD

  • słowa kluczowe: modelowanie, symulacje, dyfrakcja rentgenowska, polianilina

    keywords: simulations, modelling, X-ray diffraction, polyaniline

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maciej Śniechowski, Tomasz Kozik

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.14314/polimery.2017.800

2

  • Effect of solvents on structural anisotropy of polyaniline thin films — Wpływ rozpuszczalnika na anizotropię cienkich warstw polianiliny / Maciej ŚNIECHOWSKI, Tomasz KOZIK, Wojciech ŁUŻNY // Polimery ; ISSN 0032-2725. — 2017 T. 62 nr 11–12, s. 855-860. — Bibliogr. s. 860, Abstr., Streszcz.. — X International Conference ”X-Ray investigations of polymer structure” : Ustroń, Poland 6-9 December 2016

    orcid iD

  • słowa kluczowe: symulacje, polianilina, dyfrakcja powierzchniowa, anizotropia cienkich warstw, rozpuszczalnik

    keywords: simulations, polyaniline, surface diffraction, film anisotropy, solvent

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maciej Śniechowski, Tomasz Kozik

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.14314/polimery.2017.855

3

  • Neutron diffraction study of conducting polyaniline doped with ($\pm$) camphorsulfonic acid / Tomasz KOZIK, Maciej ŚNIECHOWSKI, Wojciech ŁUŻNY, Adam Proń, David Djurado // Polymer ; ISSN 0032-3861. — 2017 vol. 111, s. 148–155. — Bibliogr. s. 155, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-01-19. — tekst: https://goo.gl/qyV2yN

    orcid iD

  • keywords: simulations, neutron diffraction, polyaniline

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maciej Śniechowski, Tomasz Kozik

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.polymer.2017.01.034

4

  • Study of \emph{R}-factors used in structure determination by use of genetic algorithms from powder diffraction data consisting of a small number of very broad peaks / T. KOZIK, W. ŁUŻNY // W: Information Technology and Computational Physics : [CITCEP 2015 : Congress on Information Technology, Computational and Experimental Physics : 18–20 December 2015, Kraków, Poland] / eds. Piotr Kulczycki, [et al.]. — Cham : Springer International Publishing, cop. 2017. — (Advances in Intelligent Systems and Computing ; ISSN 2194-5357 ; vol. 462). — [Materiały z konferencji organizowanej przez Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH]. — ISBN: 978-3-319-44259-4 ; e-ISBN: 978-3-319-44260-0. — S. 199–215. — Bibliogr. s. 215, Abstr.

    orcid iD

  • keywords: computer modelling, genetic algorithms, fit factors, Rietveld factors, crystaline structure determination

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Kozik

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-319-44260-0_12

5

  • Surface topography of polymers induced by argon cluster ion beam sputtering : [abstract] / Andrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Jakub HABERKO, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // W: SIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID FN1-Mon4-2-3. — Tryb dostępu: http://sims.confer.uj.edu.pl/boa_oral.php?id=110 [2017-09-28]. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMiN AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Bernasik, Jakub Haberko, Mateusz M. Marzec

    cyfrowy identyfikator dokumentu: