Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

2023
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

[dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)
2018
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-2073-711X ResearcherID: brak Scopus: 11039128200 PBN: 5e70922c878c28a047391176	OPI Nauka Polska System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

wydruk:

sortowanie:

1

Radiation hardness qualification of the amplifier/discriminator ASICs production for the upgrade of the LHCb RICH detector front-end electronics
Radiation hardness qualification of the amplifier/discriminator ASICs production for the upgrade of the LHCb RICH detector front-end electronics / Mirco Andreotii, Mateusz BASZCZYK, [et al.], Piotr DOROSZ, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.] // W: 2018 IEEE Radiation Effects Data Workshop [Dokument elektroniczny] : Waikoloa, Hawaii, USA, 16–20 July 2018 : workshop record / IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2018. — (Workshop Record (IEEE Radiation Effects Data Workshop) ; ISSN 2154-0519). — CD-ROM ISBN 978-1-5386-8262-3. — e-ISBN: 978-1-5386-8263-0. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [4], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-12-20. — M. Baszczyk, P. Dorosz, W. Kucewicz - dod. afiliacja: INP, Krakow. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047fc0014.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8584280

2

The small acceptance vertex detector of NA61/SHINE
The small acceptance vertex detector of NA61/SHINE / M. Deveaux, [et al.], M. BASZCZYK, [et al.], P. DOROSZ, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.] // EPJ Web of Conferences ; ISSN 2101-6275. — 2018 vol. 171 art. no. 21001, s. 1–6. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-02-02. - Referat powtórzony w tym samym numerze czasopisma art. no. 10003 ; WOS:000426432500036 ; DOI: 10.1051/epjconf/201817110003. — SQM 2017 : 17\textsuperscript{th} international conference on Strangeness in Quark Matter : Utrecht, Netherlands, July 10–15, 2017. — tekst: https://www.epj-conferences.org/articles/epjconf/pdf/2018/06/epjconf_sqm2018_21001.pdf

3

The study of single cells in a system based on Silicon Photomultipliers
The study of single cells in a system based on Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, W. KUCEWICZ // W: 2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 25\textsuperscript{th} international symposium on Room-temperature semiconductor X-ray & gamma-ray detectors : 10–17 November 2018, Sydney, Australia : conference proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, [2018]. — (IEEE conference record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — e-ISBN: 978-1-5386-8494-8. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [2], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2019-09-05. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047lt001d.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8824598