Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2018]
  • TytułRadiation hardness qualification of the amplifier/discriminator ASICs production for the upgrade of the LHCb RICH detector front-end electronics
    AutorzyMirco Andreotii, Mateusz BASZCZYK, [et al.], Piotr DOROSZ, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.]
    Źródło2018 IEEE Radiation Effects Data Workshop [Dokument elektroniczny] : Waikoloa, Hawaii, USA, 16–20 July 2018 : workshop record / IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2018. — S. [1–4]
2
  • [referat, 2018]
  • TytułThe study of single cells in a system based on Silicon Photomultipliers
    AutorzyP. DOROSZ, M. BASZCZYK, W. KUCEWICZ
    Źródło2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 25textsuperscript{th} international symposium on Room-temperature semiconductor X-ray & gamma-ray detectors : 10–17 November 2018, Sydney, Australia : conference proceedings. — [Piscataway] : IEEE, [2018]. — S. [1–2]