Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
3
4
5
6
  • [referat, 2016]
  • TytułCracow SOI pixel detector characterization
    AutorzyDASGUPTA Roma, BUGIEL Szymon, IDZIK Marek, Kapusta Piotr, KUCEWICZ Wojciech, Nurnberg Andreas
    ŹródłoCLIC detector and physics collaborating meeting [Dokument elektroniczny] : 30–31 August 2016, CERN, [Zurich, Switzerland]. — [Geneva : s. n.], [2016]. — Slajdy 1–15
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
  • [materiały konferencyjne (red.), 2016]
  • TytułElectron technology conference 2016 : 11–14 September 2016, Wisła, Poland
    Autorzyeds. Barbara SWATOWSKA, Wojciech MAZIARZ, Tadeusz PISARKIEWICZ, Wojciech KUCEWICZ
    DetailsUSA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — [350] s.
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • [referat, 2016]
  • TytułElectron technology – ELTE 2016
    AutorzyTadeusz PISARKIEWICZ, Wojciech KUCEWICZ
    ŹródłoElectron technology conference 2016 : 11–14 September 2016, Wisła, Poland / eds. Barbara Swatowska, [et al.]. — USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — S. 1017502-1–1017502-10
  • keywords: photonic crystals, nano materials, optical fibers, electronic materials, MEMS, photonic materials, electron technology, MOEMS, quantum cascade lasers, VeSFETs, photonic metrology, electronic metrology

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2270336

10
11
12
13
14
15
16
  • [referat w czasopiśmie, 2016]
  • TytułGain compensation technique by bias correction in arrays of Silicon Photomultipliers using fully differential fast shaper
    AutorzyM. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, M. SAPOR
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2016 vol. 824, s. 85–86. — tekst: http://goo.gl/PaQIHw
  • keywords: SiPM, MPPC, array, bias correction, gain compensation, fully differential

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2015.09.085

17
18
19
20
21
22
23
24
25