Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2014]
  • TytułBandgap voltage reference and temperature sensor in novel SOI technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Marek IDZIK, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Piotr Kapusta, Yasuo Arai, Toshinobu Miyoshi, Ayaki Takeda
    ŹródłoICSES 2014 [Dokument elektroniczny] : International Conference on Signals and Electronic Systems : Poznań, Poland, 11–13 September 2014 : international conference / Faculty of Electronics and Telecommunications. Poznan University of Technology. — [Poznan : University of Technology], [2014]. — S. [1–4]
2
  • [referat, 2014]
  • TytułFront-end electronics with fast signal shaper for Silicon Photomultipliers
    AutorzyP. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, R. Calabrese, A. Cotta Ramusino, E. Luppi, R. Malaguti
    Źródło2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–3]
3
  • [referat, 2014]
  • TytułMicroflow measurements of antibodies fluorescence using Silicon Photomultipliers
    AutorzyP. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK
    Źródło2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–2]
4
  • [referat, 2014]
  • TytułRadiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology
    AutorzyS. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.]
    Źródło2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–3]
5
  • [referat, 2014]
  • TytułSynthetizable digital library created to facilitate design of SOI detectors in 200 nm SOI technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Marek IDZIK, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Piotr Kapusta, Yasuo Arai, Toshinobu Miyoshi, Ayaki Takeda
    ŹródłoICSES 2014 [Dokument elektroniczny] : International Conference on Signals and Electronic Systems : Poznań, Poland, 11–13 September 2014 : international conference / Faculty of Electronics and Telecommunications. Poznan University of Technology. — [Poznan : University of Technology], [2014]. — S. [1–4], art. no. 6948729