Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Kos, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3089-241X orcid iD

ResearcherID: S-3300-2017

Scopus: 55568000900

PBN: 5e70922b878c28a047391164

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2001]
  • TytułEstymacja strat energii w układach cyfrowych CMOS
    AutorzyJacek KOŁODZIEJ, Andrzej KOS
    ŹródłoKwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji. — 2001 t. 47 z. 3, s. 303–322. — tekst: http://www.ijet.pl/old_archives/kwartalnik_elektroniki_i_telekomunikacji_47z3_2001.pdf

  • słowa kluczowe: układy cyfrowe CMOS, projektowanie układów Low Power, estymacja strat energii, straty statyczne, straty dynamiczne, program MPET

    keywords: low power design, digital CMOS circuits, estimation of power loses, static loses, dynamic loses, MPET program

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jacek Kołodziej

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2001]
  • TytułLogic synthesis method for power dissipation reduction in combinational digital circuits
    AutorzyIreneusz BRZOZOWSKI, Andrzej KOS
    ŹródłoBulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences. — 2001 vol. 49 no. 4, s. 581–594

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Ireneusz Brzozowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [referat, 2001]
  • TytułOn thermal time constants of VLSI circuits
    AutorzyAndrzej KOS
    ŹródłoAdvances in microelectronic device technology : 7–9 November 2001 Nanjing, China / eds. Qin-Yi Tong, Ulrich M. Goesele ; SPIE [The International Society for Optical Engineering]. — [China] : SPIE, 2001. — S. 160–169

  • keywords: thermal dynamics, thermal time constants, VLSI systems and circuits

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.444669

6
  • [referat, 2001]
  • TytułTemperature sensors placement strategy for fault diagnosis in Integrated Circuits
    AutorzyPiotr BRATEK, Andrzej KOS
    ŹródłoSEMI-THERM : semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA USA March 20–22, 2001 : proceedings 2001. — [Piscataway : IEEE], [2001]. — S. 245–251

  • keywords: integrated circuits, fault diagnosis, sensors placement strategy, thermal testing method

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Bratek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/STHERM.2001.915185

7
8
  • [referat, 2001]
  • TytułTool for fast modelling active heat sinks
    AutorzyPiotr DZIURDZIA, Andrzej KOS
    ŹródłoSEMI-THERM : semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA USA March 20–22, 2001 : proceedings 2001. — [Piscataway : IEEE], [2001]. — S. 174–179

  • keywords: electrothermal model, active heat sink, Peltier pump

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Dziurdzia

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/STHERM.2001.915175