Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Kos, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3089-241X orcid iD

ResearcherID: S-3300-2017

Scopus: 55568000900

PBN: 5e70922b878c28a047391164

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2
  • [referat, 2001]
  • TytułFault diagnosis and fault localisation in integrated circuit by thermal method
    AutorzyPiotr BRATEK, Andrzej KOS
    ŹródłoThe 13textsuperscript{th} [thirteenth] International conference on Microelectronics : Rabat, Morocco October 29–31, 2001. — [Morocco : s. n.], [2001]. — Ekran 230–233
3
  • [referat, 2001]
  • TytułFault localisation in Integrated Circuits by thermal method
    AutorzyPiotr BRATEK, Andrzej KOS
    ŹródłoMTM 2001 : 5textsuperscript{th} [fifth] international symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems : Piteşti, June 7–9, 2001. — [Piteşti : s. n.], [2001]. — S. [72–77]
4
5
  • [referat, 2001]
  • TytułOn thermal time constants of VLSI circuits
    AutorzyAndrzej KOS
    ŹródłoAdvances in microelectronic device technology : 7–9 November 2001 Nanjing, China / eds. Qin-Yi Tong, Ulrich M. Goesele ; SPIE [The International Society for Optical Engineering]. — [China] : SPIE, 2001. — S. 160–169
6
  • [referat, 2001]
  • TytułSPICE based simulations of electrothermal processes
    AutorzyPiotr DZIURDZIA, Andrzej KOS
    ŹródłoProceedings of the 2textsuperscript{nd} [second] international conference on Benefiting from thermal and mechanical simulation in (micro)-electronics : 9–11 April 2001 Paris, France / eds. G. Q. Zhang, L. J. Ernst, O. de Saint Leger. — [France] : Europia productions, 2001. — S. 297–301
7
  • [referat, 2001]
  • TytułTemperature sensors placement strategy for fault diagnosis in Integrated Circuits
    AutorzyPiotr BRATEK, Andrzej KOS
    ŹródłoSEMI-THERM : semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA USA March 20–22, 2001 : proceedings 2001. — [Piscataway : IEEE], [2001]. — S. 245–251
8
9
  • [referat, 2001]
  • TytułTool for fast modelling active heat sinks
    AutorzyPiotr DZIURDZIA, Andrzej KOS
    ŹródłoSEMI-THERM : semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA USA March 20–22, 2001 : proceedings 2001. — [Piscataway : IEEE], [2001]. — S. 174–179