Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

2022
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa
2019
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0001-9589-7786 orcid iD

ResearcherID: DRK-0070-2022

Scopus: 57216955375

sortowanie:

1

[artykuł w czasopiśmie, 2021]

Tytuł	Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

2

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Mapping of lattice distortion in martensitic steel — comparison of different evaluation methods of EBSD patterns
Autorzy	Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Leonid Dan, Piotr BAŁA
Źródło	Ultramicroscopy. — 2023 vol. 253 art. no. 113824, s. 1–11. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399123001419/pdfft?md5=f28fb329e801363d8a4e08dc81e529b9&pid=1-s2.0-S0304399123001419-main.pdf

keywords: martensite, EBSD, steel, strain, tetragonality

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2023.113824

3

[referat w czasopiśmie, 2020]

Tytuł	Numerical procedure of three-dimensional reconstruction of ferrite-pearlite microstructure data from SEM/EBSD serial sectioning
Autorzy	Mateusz SITKO, Mateusz MOJŻESZKO, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Piotr BAŁA, Krzysztof MUSZKA, Łukasz MADEJ
Źródło	Procedia Manufacturing [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 47, s. 1217-1222. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2351978920312439/pdf?md5=683af92612cee0b1cfc6227c8cd249f4&pid=1-s2.0-S2351978920312439-main.pdf

keywords: digital material representation, 3D reconstruction, serial sectioning

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Krzysztof Muszka, Łukasz Madej, Piotr Bała, Mateusz Sitko, Grzegorz Cios, Mateusz Mojżeszko

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.promfg.2020.04.183

4

[artykuł w czasopiśmie, 2021]

Tytuł	Transmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio
Autorzy	Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS
Źródło	Ultramicroscopy. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — tekst: https://tiny.pl/9twcx

keywords: SEM, EBSD, transmission Kikuchi diffraction, sample holder

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2021.113372

5

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 1, Where is the Bragg angle?
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 349-360. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5337/nb5337.pdf

keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform, Bragg angles, Kikuchi bands, first derivative, lattice parameter determination, Bravais lattice type

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000134

6

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 2, Offset corrections
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 361-366. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5343/nb5343.pdf

keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, lattice parameter determination, mean atomic number, automated Bragg angle determination, dynamical theory of electron diffraction, Funk transform

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000146

7

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 3, Pseudosymmetry
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 367-380. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5341/nb5341.pdf

keywords: lattice parameters, ordered structures, electron backscatter diffraction, Funk transform, Bravais lattices, pseudosymmetry, lattice point density, lattice distortion, backscattered Kikuchi diffraction patterns, disordered structures

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000845