Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

doktorant

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0001-9589-7786 orcid iD

ResearcherID: DRK-0070-2022

Scopus: 57216955375

1
  • [artykuł w czasopiśmie, 2021]
  • TytułCrystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns
    AutorzyGert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN
    ŹródłoJournal of Applied Crystallography. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf
2
3
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2021]
  • TytułTransmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio
    AutorzyTomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS
    ŹródłoUltramicroscopy. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — tekst: https://tiny.pl/9twcx
5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułUse of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 1, Where is the Bragg angle?
    AutorzyGert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
    ŹródłoJournal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 349-360. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5337/nb5337.pdf
6
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułUse of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 2, Offset corrections
    AutorzyGert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
    ŹródłoJournal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 361-366. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5343/nb5343.pdf
7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułUse of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 3, Pseudosymmetry
    AutorzyGert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
    ŹródłoJournal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 367-380. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5341/nb5341.pdf