Wykaz publikacji wybranego autora

Adrian Oponowicz, mgr

doktorant

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 57202432582



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem1394
2022321
202144
2020211
201911
2018321
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem1313
202233
202144
202022
201911
201833
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem13211
2022312
202144
202022
201911
2018312
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem1349
2022312
202144
2020211
201911
2018312
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem1349
2022312
202144
2020211
201911
2018312
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1358
2022312
202144
202022
201911
2018312



1
  • A multireflection and multiwavelength residual stress determination method using energy dispersive diffraction
2
  • A novel approach for nondestructive depth-resolved analysis of residual stress and grain interaction in the near-surface zone applied to an austenitic stainless steel sample subjected to mechanical polishing
3
  • Determination of depth-dependent stress profile in the near surface region of mechanically treated samples
4
  • Determining of residual stresses in mechanically textured and polished austenitic stainless steel using synchrotron diffraction
5
  • Evolution of stresses and elastic properties below sample surface studied using X-ray diffraction
6
  • Gradient of residual stress and lattice parameter in mechanically polished tungsten measured using classical X-rays and synchrotron radiation
7
  • In-depth evolution of residual stresses and effect of free surface on stress relaxation determined using X-ray diffraction Laplace methods
8
  • Measurement of stresses in polycrystalline materials using energy-dispersive X-ray diffraction
9
  • Multi-reflection energy dispersive diffraction applied to measure stresses in surface layers
10
  • Multireflection grazing-incidence X-ray diffraction: a new approach to experimental data analysis
11
  • New analysis method of multireflection grazing incidence X-ray diffraction
12
  • Saccharine effect on the microstructure and stress state in nickel electrodeposited on copper substrate
13
  • Synchrotron energy dispersive method and grazing incident X-ray diffraction used to measure stresses in surface layers of polycrystalline materials