doktorant
Faculty of Physics and Applied Computer Science WFiIS-kfms
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 57202432582
Multireflection grazing-incidence X-ray diffraction: a new approach to experimental data analysis / Marianna MARCISZKO-WIĄCKOWSKA, Adrian OPONOWICZ, Andrzej BACZMAŃSKI, Mirosław WRÓBEL, Ch. Braham, R. WAWSZCZAK // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2019 vol. 52 iss. 6, s. 1409–1421. — Bibliogr. s. 1420–1421. — Publikacja dostępna online od: 2019-11-14. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-1r3ntz4hw0026.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1107/S1600576719013876
keywords: residual stress, elastic constants, coating layers, multi-reflection grazing-incidence X-ray diffraction
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Baczmański, Mirosław Wróbel, Roman Wawszczak, Marianna Marciszko-Wiąckowska
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576719013876