A multireflection and multiwavelength residual stress determination method using energy dispersive diffraction / Marianna MARCISZKO, Andrzej BACZMAŃSKI, Manuela Klaus, Christoph Genzel, Adrian OPONOWICZ, Sebastian WROŃSKI, Mirosław WRÓBEL, Chedly Braham, Habib Sidhom, Roman WAWSZCZAK // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2018 vol. 51 iss. 3, s. 732–745. — Bibliogr. s. 744–745. — Publikacja dostępna online od: 2018-05-09. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-1r3ntz4k3007d.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1107/S1600576718004193

Determination of depth-dependent stress profile in the near surface region of mechanically treated samples / Adrian OPONOWICZ, M. MARCISZKO, A. BACZMAŃSKI, S. WROŃSKI, M. WRÓBEL, C. Genzel, M. Klaus, C. Braham, H. Sidhom // W: FuNaM–2 [Dokument elektroniczny] : 2\textsuperscript{nd} international workshop on Functional Nanostructured Materials : October 11\textsuperscript{th}-12\textsuperscript{th}, 2018, Kraków, Poland : book of abstracts / ed. by Joanna Grudzień, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : Faculty of Chemistry. Jagiellonian University, cop. 2018. — ISBN: 978-83-951195-0-7. — S. 113. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.funam.confer.uj.edu.pl/documents/138825482/0/BookOfAbstracts_FuNaM-2.pdf/8731152d-3472-4665-bb20-a7f4380bce2e [2018-10-18]. — Bibliogr. s. 113

Multi-reflection energy dispersive diffraction applied to measure stresses in surface layers / OPONOWICZ Adrian, MARCISZKO Marianna, BACZMAŃSKI Andrzej, WROŃSKI Sebastian, WRÓBEL Mirosław, Genzel Christoph, Klaus Manuela, Braham Chedly, Sidhom Habib // W: ECRS10 : European Conference on Residual Stresses : Leuven, Belgium, 11-14 September, 2018. — [Belgium : s. n.], [2018]. — Opis wg okł.. — S. 178–179. — Bibliogr. s. 179