Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

Academic Centre for Materials and Nanotechnology
ACMIN-zim

2019
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-6534-693X ResearcherID: E-8606-2010 Scopus: 6701442404 PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0	System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

System Informacyjny AGH (SkOs)

sortowanie:

1

Active sites of Te-hyperdoped silicon by hard x-ray photoelectron spectroscopy / Moritz Hoesch, Olena Fedchenko, Mao Wang, Christoph Schlueter, Dmitrii Potorochin, Katerina Medjanik, Sergey Babenkov, Anca S. Ciobanu, Aimo WINKELMANN, Hans-Joachim Elmers, Shengqiang Zhou, Manfred Helm, Gerd Schönhense // Applied Physics Letters ; ISSN 0003-6951. — 2023 vol. 122 iss. 25 art. no. 252108, s. 252108-1–252108-6. — Bibliogr. s. 252108-5–252108-6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-06-23. — tekst: https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/doi/10.1063/5.0148430/18016135/252108_1_5.0148430.pdf
- słowa kluczowe
- DOI
brak zdefiniowanych słów kluczowych

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1063/5.0148430

2

Advanced diffraction mapping of nitride semiconductor thin films and nanostructures : [abstract] / J. Bruckbauer, G. Ferenczi, R. McDermott, K. Hiller, B. Hourahine, A. WINKELMANN, C. Trager-Cowan // W: EMAS 2023 [Dokument elektroniczny] : 17\textsuperscript{th} European workshop on Modern developments and applications in microbeam analysis : 7–11 May 2023, Krakow, Poland : book of tutorials and abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Zürich : European Microbeam Analysis Society eV (EMAS), cop. 2023. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-90-8227-6961. — S. 306–308. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 308. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, Great Britain
- słowa kluczowe
- DOI
brak zdefiniowanych słów kluczowych

cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

Assignment of chiral elemental crystal structures using Kikuchi diffraction / Aimo WINKELMANN, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA, Yuri Grin, Ulrich Burkhardt // Materials Characterization : an International Journal on Materials Structure and Behavior ; ISSN 1044-5803. — 2023 vol. 196 art. no. 112633, s. 1–9. — Bibliogr. s. 8–9, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2022-12-29. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1044580322009159
keywords: scanning electron microscopy, electron backscatter diffraction, chirality, Kikuchi diffraction, absolute structure, non centrosymmetric crystals

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.matchar.2022.112633

4

Badania EBSD struktury domenowej faz międzymetalicznych Cu-Sn po przemianach fazowych — EBSD investigation of domain structures after phase transformations in Cu-Sn intermetallics / WINKELMANN A. // W: SIM 2023 [Dokument elektroniczny] : 50 Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków, 27–29 IX 2023 / opiekun naukowy konferencji Piotr Bała ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza], [2023]. — S. 43. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://s.agh.edu.pl/77XIG [2023-10-12]. — Afiliacja autora: Akademia Górniczo-Hutnicza
- słowa kluczowe
- DOI
brak zdefiniowanych słów kluczowych

cyfrowy identyfikator dokumentu:

5

Circular dichroism in hard X-ray photoelectron diffraction observed by time-of-flight momentum microscopy / O. Tkach, T.-P. Vo, O. Fedchenko, K. Medjanik, Y. Lytvynenko, S. Babenkov, D. Vasilyev, Q. L. Nguyen, T. R. F. Peixoto, A. Gloskowskii, C. Schlueter, S. Chernov, M. Hoesch, D. Kutnyakhov, M. Scholz, L. Wenthaus, N. Wind, S. Marotzke, A. WINKELMANN, K. Rossnagel, J. Minár, H.-J. Elmers, G. Schönhense // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2023 vol. 250 art. no. 113750, s. 1–11. — Bibliogr. s. 9–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-05-06. — A. Winkelmann - afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechn., Univ. of Science and Technology. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399123000670/pdfft?md5=7436b62289e41f726a1e0cf3589a94d9&pid=1-s2.0-S0304399123000670-main.pdf
- słowa kluczowe
- DOI
brak zdefiniowanych słów kluczowych

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2023.113750

6

Enantiomorph conversion in single crystals of the Weyl semimetal CoSi / Wilder Carrillo-Cabrera, Paul Simon, Marcus Schmidt, Markus König, Horst Borrmann, Aimo WINKELMANN, Ulrich Burkhardt, Yuri Grin // Communications Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2662-4443. — 2023 vol. 4 iss. 1 art. no. 109, s. 1–9. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8–9, Abstr.. — tekst: https://www.nature.com/articles/s43246-023-00434-8.pdf
- słowa kluczowe
- DOI
brak zdefiniowanych słów kluczowych

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1038/s43246-023-00434-8

7

Evolution of martensite tetragonality in high-carbon steels revealed by \emph{in situ} high-energy X-ray diffraction / Thomas Kohne, Johan Fahlkrans, Albin Stormvinter, Emad Maawad, Aimo WINKELMANN, Peter Hedström, Annika Borgenstam // Metallurgical and Materials Transactions. A, Physical Metallurgy and Materials ; ISSN 1073-5623. — 2023 vol. 54 iss. 4, s. 1083–1100. — Bibliogr. s. 1099–1100, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-06. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s11661-022-06948-z.pdf?pdf=button
- słowa kluczowe
- DOI
brak zdefiniowanych słów kluczowych

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11661-022-06948-z

8

Factors affecting martensite tetragonality during EBSD analysis / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Marta GAJEWSKA, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA // Microscopy and Microanalysis ; ISSN 1431-9276. — 2023 vol. 29 suppl. 1, s. 477. — Bibliogr. s. 477. — M&M 2023 : Microscopy & Microanalysis : Minneapolis, July 23-27, 2023. — tekst: https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/Supplement_1/477/50932310/ozad067.225.pdf
brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Łukasz Rychłowski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1093/micmic/ozad067.225

9

Imaging threading dislocations and surface steps in nitride thin films using electron backscatter diffraction / Kieran P. Hiller, Aimo WINKELMANN, Ben Hourahine, Bohdan Starosta, Aeshah Alasmari, Peng Feng, Tao Wang, Peter J. Parbrook, Vitaly Z. Zubialevich, Sylvia Hagedorn, Sebastian Walde, Markus Weyers, Pierre-Marie Coulon, Philip A. Shields, Jochen Bruckbauer, Carol Trager-Cowan // Microscopy and Microanalysis ; ISSN 1431-9276. — 2023 vol. 29 iss. 6, s. 1879–1888. — Bibliogr. s. 1887–1888, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-11-08. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Advanced Materials Diffraction Lab, Department of Physics, SUPA, University of Strathclyde, Glasgow. — tekst: https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/6/1879/54730825/ozad118.pdf
- słowa kluczowe
- DOI
keywords: SEM, dislocations, EBSD, nitrides, extended defects, thin film semiconductors

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1093/micmic/ozad118

10

Mapping of lattice distortion in martensitic steel — comparison of different evaluation methods of EBSD patterns / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Leonid Dan, Piotr BAŁA // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2023 vol. 253 art. no. 113824, s. 1–11. — Bibliogr. s. 10–11, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-08-03. — P. Bała - dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399123001419/pdfft?md5=f28fb329e801363d8a4e08dc81e529b9&pid=1-s2.0-S0304399123001419-main.pdf
keywords: martensite, EBSD, steel, strain, tetragonality

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Łukasz Rychłowski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2023.113824

11

Studying high carbon steel martensite tetragonality using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Marta GAJEWSKA, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA // W: AMT'2023 : Advanced Materials and Technologies : June 18th – 21st 2023, Wisła, Poland : book of abstracts / eds. Adam Skowronek, Aleksandra Kozłowska. — Katowice - Gliwice : Archives of Foundry Engineering, cop. 2023. — ISBN: 978-83-63605-57-5. — S. 55
keywords: martensite, EBSD, steels

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Łukasz Rychłowski

cyfrowy identyfikator dokumentu:

Bibiografia Publikacji Pracowników Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie

Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.