Wykaz publikacji wybranego autora

Aimo Winkelmann, dr hab.

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMIN-zim, Zakład Inżynierii Materiałowej

2019
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-6534-693X ResearcherID: E-8606-2010 Scopus: 6701442404 PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0	System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6534-693X orcid iD

ResearcherID: E-8606-2010

Scopus: 6701442404

PBN: 5e7094f9878c28a0473c82b0

wydruk:

sortowanie:

1

Absolute structure from scanning electron microscopy
Absolute structure from scanning electron microscopy / Ulrich Burkhardt, Horst Borrmann, Philip Moll, Marcus Schmidt, Yuri Grin, Aimo WINKELMANN // Scientific Reports [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2045-2322. — 2020 vol. 10 iss. 1 art. no. 4065, s. 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-04. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: Laser Zentrum Hannover e. V, Hannover, Germany. — tekst: https://www.nature.com/articles/s41598-020-59854-y.pdf

2

Approximant-based orientation determination of quasicrystals using electron backscatter diffraction
Approximant-based orientation determination of quasicrystals using electron backscatter diffraction / Grzegorz CIOS, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Tomasz TOKARSKI, Ralf Hielscher, Radosław STRZAŁKA, Ireneusz BUGAŃSKI, Janusz WOLNY, Piotr BAŁA // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2020 vol. 218 art. no. 113093, s. 1–10. — Bibliogr. s. 9–10, Abstr.. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom ; P. Bała - dod. afiliacja: ACMIN AGH. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399120302448/pdfft?md5=f183764b159afc3fd64907b4381f2508&pid=1-s2.0-S0304399120302448-main.pdf

3

EBSD orientation analysis based on experimental Kikuchi reference patterns
EBSD orientation analysis based on experimental Kikuchi reference patterns / Aimo WINKELMANN, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Ralf Hielscher, Tomasz KOZIEŁ // Acta Materialia ; ISSN 1359-6454. — Tytuł poprz.: Acta Metallurgica et Materialia. — 2020 vol. 188, s. 376–385. — Bibliogr. s. 384–385, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-02-11. — A. Winkelmann - dod. afiliacje: Laser Zentrum Hannover e. V., Hannover, Germany ; University of Strathclyde, United Kingdom. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1359645420300781/pdfft?md5=6e9a8cf8fe03034ea2e9ec2a0880e3a5&pid=1-s2.0-S1359645420300781-main.pdf

4

Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction
Emitter-site specificity of hard x-ray photoelectron Kikuchi-diffraction / O. Fedchenko, A. WINKELMANN, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch, H-J. Elmers, G. Schönhense // New Journal of Physics [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1367-2630. — 2020 vol. 22 iss. 10 art. no. 103002, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 12–13, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-10-01. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/abb68b/pdf

5

Improving EBSD precision by orientation refinement with full pattern matching
Improving EBSD precision by orientation refinement with full pattern matching / A. WINKELMANN, B. M. Jablon, V. S. Tong, C. Trager-Cowan, K. P. Mingard // Journal of Microscopy ; ISSN 0022-2720. — 2020 vol. 277 iss. 2, s. 79–92. — Bibliogr. s. 91–92, Summ.. — Publikacja dostępna online od: 2020-01-30. — A. Winkelmann - dod afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, U. K.. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-1r3ntz4ro00f7.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1111/jmi.12870

6

Manual measurement of angles in backscattered and transmission Kikuchi diffraction patterns
Manual measurement of angles in backscattered and transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2020 vol. 53 pt. 2, s. 435–443. — Bibliogr. s. 443. — tekst: http://journals.iucr.org/j/issues/2020/02/00/nb5262/nb5262.pdf

7

Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps
Refined calibration model for improving the orientation precision of electron backscatter diffraction maps / Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Grzegorz CIOS, Tomasz TOKARSKI, Piotr BAŁA // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2020 vol. 13 iss. 12 art. no. 2816, s. 1–20. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 17–20, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-06-23. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow. — P. Bała – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/13/12/2816/pdf

8

Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope
Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope / C. Trager-Cowan, A. Alasmari, W. Avis, J. Bruckbauer, P. R. Edwards, G. Ferenczi, B. Hourahine, A. Kotzai, S. Kraeusel, G. Kusch, R. W. Martin, R. McDermott, G. Naresh-Kumar, M. Nouf-Allehiani, E. Pascal, D. Thomson, S. Vespucci, M. D. Smith, P. J. Parbrook, J. Enslin, F. Mehnke, C. Kuhn, T. Wernicke, M. Kneissl, S. Hagedorn, A. Knauer, S. Walde, M. Weyers, P-M. Coulon, P. A. Shields, J. Bai, Y Gong, L. Jiu, Y. Zhang, R. M. Smith, T. Wang, A. WINKELMANN // Semiconductor Science and Technology ; ISSN 0268-1242. — 2020 vol. 35 no. 5 art. no. 054001, s. 1–15. — Bibliogr. s. 13–15, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-25. — A. Winkelmann – dod. afiliacja: University of Strathelyde, United Kingdom. — 21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (MSM-XXI) : 9–12 April 2019, Cambridge, UK. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ab75a5/pdf