doktorant
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Microstructure and selected mechanical and electrical property analysis of $Sr$-doped $LaCoO_{3}$ perovskite thin films deposited by the PLD technique / Łukasz CIENIEK, Agnieszka KOPIA, Jan KUSIŃSKI, Kazimierz KOWALSKI, Tomasz MOSKALEWICZ, Anna CYZA, Wojciech MAZIARZ // International Journal of Materials Research ; ISSN 1862-5282. — Tytuł poprz.: Zeitschrift für Metallkunde. — 2019 vol. 110 iss. 1, s. 32–41. — Bibliogr., Abstr.. — 16th International Conference on Electron Microscopy : SEP 10-13, 2017, Jachranka