doktorant
Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
słowa kluczowe: amorficzny krzem, elipsometria, PACVD
keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maria Jurzecka-Szymacha, Piotr Boszkowicz
cyfrowy identyfikator dokumentu: