doktorant
Faculty of Physics and Applied Computer Science WFiIS-kfc
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
Size and impurities effects on resistivity of ultra-thin metallic layer / A. DZIAŁO, A. PAJA // W: ANM 2014 [Dokument elektroniczny] : 5th international conference on Advanced Nanomaterials : 2–4 July, 2014, Aveiro, Portugal : abstract book. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Portugal : Center for Mechanical Technology & Automation, [2014]. — Dysk Flash. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Antoni Paja
cyfrowy identyfikator dokumentu: