Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksandra Krzyżanowska, dr inż.

poprzednio: Drozd

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1981-7067 orcid iD

ResearcherID: P-9953-2019

Scopus: 57044566800

PBN: 5e70929a878c28a047398dea

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2015]
  • TytułDigitally assisted low noise and fast signal processing charge sensitive amplifier for single photon counting systems
    AutorzyP. GRYBOŚ, A. DROZD, R. KŁECZEK, P. MAJ, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoICIT 2015 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Conference on Industrial Technology : 17-19 March 2015, Sevilla. — [Piscataway : IEEE], cop. 2015. — S. 1445–1450
2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułMeasurements of matching and noise performance of a prototype readout chip in 40 nm CMOS process for hybrid pixel detectors
    AutorzyP. MAJ, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, P. KMON, R. KŁECZEK, A. DROZD, P. OTFINOWSKI, G. DEPTUCH
    ŹródłoIEEE Transactions on Nuclear Science. — 2015 vol. 62 no. 1, s. 359–367. — tekst: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7027239
3
  • [referat, 2015]
  • TytułMethodology of automation process of wafer tests
    AutorzyPiotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ
    ŹródłoMIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — S. 139
4
  • [referat w czasopiśmie, 2015]
  • TytułTesting multistage gain and offset trimming in a single photon counting IC with a charge sharing elimination algorithm
    AutorzyA. KRZYŻANOWSKA, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, P. MAJ
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2015 vol. 10 poz. C12003, s. [1–2], 1–8. — tekst: http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/10/12/C12003/pdf