Wykaz publikacji wybranego autora

Kamil Staszek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-3866-8466 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 52164552600

PBN: 5e7093de878c28a0473b2429

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • [referat, 2019]
  • TytułCalibration of a multiport reflectometer using matched load and unknown loads
    AutorzyKamil STASZEK
    ŹródłoProceedings of the 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC) [Dokument elektroniczny] : 10–13 December 2019, Marina Bay Sands, Singapore. — Piscataway : IEEE, cop. 2019. — S. 1616–1618
  • keywords: calibration, six-port, reflection coefficient measurement, multi-port reflectometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/APMC46564.2019.9038619

3
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2019]
  • TytułInvestigation on optimum parameters of six-port reflectometers
    AutorzyKamil STASZEK
    ŹródłoInternational Journal of Information and Electronics Engineering (IJIEE) [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne. — 2019 vol. 9 no. 1, s. 30–33. — tekst: http://www.ijiee.org/vol9/700-CE044.pdf
  • keywords: measurement uncertainty, reflection coefficient, six-port reflectometer, power meters, dynamics of power range, multi-port measurement technique

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.18178/ijiee.2019.9.1.700

5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2019]
  • TytułMetal oxide thin films prepared by magnetron sputtering technology for volatile organic compound detection in the microwave frequency range
    AutorzyArtur RYDOSZ, Andrzej BRUDNIK, Kamil STASZEK
    ŹródłoMaterials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2019 vol. 12 iss. 6 art. no. 877, s. 1–13. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/12/6/877/pdf
  • keywords: gas sensors, metal oxide thin films, volatile organic compound detection, microwave frequency

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma12060877

6
  • [referat, 2019]
  • TytułMicrowave system with sensor utilizing CuO-based gas-sensitive layer for acetone detection
    AutorzyArtur RYDOSZ, Kamil STASZEK, Krzysztof WINCZA, Sławomir GRUSZCZYŃSKI
    ŹródłoProceedings of the 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC) [Dokument elektroniczny] : 10–13 December 2019, Marina Bay Sands, Singapore. — Piscataway : IEEE, cop. 2019. — S. 363–365
  • keywords: acetone detection, microwave system, gas sensing applications

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/APMC46564.2019.9038248

7
8
9
10
  • [referat, 2019]
  • TytułUltra-wideband multiprobe reflectometer designed in MMIC technique
    AutorzyRobert SMOLARZ, Krzysztof WINCZA, Sławomir GRUSZCZYŃSKI, Kamil STASZEK
    ŹródłoProceedings of the 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC) [Dokument elektroniczny] : 10–13 December 2019, Marina Bay Sands, Singapore. — Piscataway : IEEE, cop. 2019. — S. 1220–1222
  • keywords: microwave reflectometer, ultra wideband reflectometer, MMIC technique, multi-probe reflectometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/APMC46564.2019.9038528

11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2019]
  • TytułWideband two-port with programmable scattering parameters
    AutorzySzczepan ODROBINA, Kamil STASZEK
    ŹródłoIET Microwaves, Antennas & Propagation. — 2019 vol. 13 iss. 14, s. 2525–2530
  • keywords: calibration, 0 GHz, 5 GHz to 2, frequency 0, wideband two-port, reflection coefficients, two octave operational bandwidth, tuning range, manufactured system, design equations, transmission coefficients, programmable reflection, two port network, programmable scattering parameters, UHF filters, programmable circuits, reflectometers, two port networks, S-parameters, multi-port reflectometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1049/iet-map.2018.5816