asystent
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 53881319200
Characterization of high resolution CMOS monolithic active pixel detector in SOI technology / M. I. AHMED, Y. Arai, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. Kapusta, T. Miyoshi, A. Takeda, M. Turala // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2015 vol. 10 iss. 5 art. no. P05010, s. [1], P05010-1–P05010-16. — Bibliogr. s. P05010-15–P05010-16, Abstr.. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/10/05/P05010/pdf/1748-0221_10_05_P05010.pdf