Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Głąb, mgr inż.

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki

Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 53881319200

sortowanie:

1

[referat, 2014]

Tytuł	Front-end electronics with fast signal shaper for Silicon Photomultipliers
Autorzy	P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, R. Calabrese, A. Cotta Ramusino, E. Luppi, R. Malaguti
Źródło	2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–3]

keywords: silicon photomultiplier, front-end, pulse shaping, single photon

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Mateusz Baszczyk, Piotr Dorosz, Łukasz Mik

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431216

2

[referat, 2014]

Tytuł	Microflow measurements of antibodies fluorescence using Silicon Photomultipliers
Autorzy	P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK
Źródło	2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–2]

keywords: silicon photomultiplier, antibody detection, fluorescent dye

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Mateusz Baszczyk, Piotr Dorosz, Łukasz Mik

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431015

3

[referat w czasopiśmie, 2014]

Tytuł	Prototype pixel detector in the SOI technology
Autorzy	M. I. AHMED, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. J. Kapusta, M. Turala
Źródło	Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2014 vol. 9 no. 2, s. [1], 1–8 article no. C02010. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/9/02/C02010/pdf/1748-0221_9_02_C02010.pdf

keywords: solid state detectors, Si microstrip and pad detectors, X-ray detectors, materials, detector design, construction technologies

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Idzik, Mohammed Imran Ahmed

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/9/02/C02010

4

[referat, 2014]

Tytuł	Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology
Autorzy	S. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.]
Źródło	2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — S. [1–3]

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Maria Sapor, Marek Idzik, Mateusz Baszczyk, Piotr Dorosz, Łukasz Mik

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NSSMIC.2014.7431063