asystent
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 53881319200
Front-end electronics with fast signal shaper for Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK, R. Calabrese, A. Cotta Ramusino, E. Luppi, R. Malaguti // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/zrUkiF
Microflow measurements of antibodies fluorescence using Silicon Photomultipliers / P. DOROSZ, M. BASZCZYK, S. GŁĄB, W. KUCEWICZ, Ł. MIK // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [2], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/W7mEOL
Prototype pixel detector in the SOI technology / M. I. AHMED, S. GŁĄB, M. IDZIK, P. J. Kapusta, M. Turala // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2014 vol. 9 no. 2, s. [1], 1–8 article no. C02010. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Topical workshop on Electronics for particle physics 2013 : 23–27 September 2013, Perugia. — tekst: http://iopscience.iop.org/1748-0221/9/02/C02010/pdf/1748-0221_9_02_C02010.pdf
Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology / S. GŁĄB, [et al.], M. BASZCZYK, Sz. Bugiel, R. Dasgupta, P. DOROSZ, M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], Ł. MIK, [et al.], M. SAPOR, [et al.] // W: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny] : 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2014]. — e-ISBN: 978-1-4799-6097-2. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-14. — tekst: https://goo.gl/qBuhGX