Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Głąb, mgr inż.

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki

Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 53881319200

1
  • [referat, 2013]
  • TytułCharacterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $mu$m technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik
    ŹródłoMIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — S. 95

  • keywords: SOI, SOI detector, transistor characterization, back gate effect, burried p-well

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Kucewicz, Maria Sapor, Mateusz Baszczyk, Piotr Dorosz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: