Characterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $\mu$m technology / Sebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik // W: MIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20\textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — Opis wg okł.. — ISBN: 978-836357801-5. — S. 95. — Abstr.. — Pełny tekst W: Mixdes 2013 [Dokument elektroniczny] : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : proceedings of the 20\textsuperscript{th} international conference : Gdynia, Poland, 20–22 June 2013 / ed. Andrzej Napieralski. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Łódź : University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — S. 360–364. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. Tytuł przejęto ze s. tyt. — Bibliogr. s. 364, Abstr. — ISBN 978-83-63578-00-8

Low intensity fluorescence light measurements using silicon photomultiplier with dedicated front-end ASIC / M. BASZCZYK, P. DOROSZ, S. GŁĄB, Ł. MIK, W. KUCEWICZ, D. G. Pijanowska, R. Szczypiński // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2 2013, Seoul, Korea. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, [2013]. — ISBN: 978-1-4799-0533-1. — S. [1–3]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6829205 [2014-09-17]. — Dod. ISBN 978-1-4799-0534-8

Self-calibrating gain stabilization method for applications using silicon photomultipliers / Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4799-3423-2. — S. [1–3]. — Bibliogr. s. [3], Abstr.. — Dostęp również online: {http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=6829805} [2014-09-17]. — Dod. ISBN 978-1-4799-0534-8 ; 978-1-4799-0533-1