Wykaz publikacji wybranego autora

Rafał Kłeczek, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5840-8557 orcid iD

ResearcherID: T-3431-2017

Scopus: 36519032700

PBN: 5e709328878c28a0473a3f29

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2011]
  • TytułA bidirectional 64-channel neurochip for recording and stimulation neural network activity
    AutorzyM. ŻOŁĄDŹ, P. KMON, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, R. KŁECZEK, P. OTFINOWSKI
    ŹródłoProceedings of the 5th International IEEE EMBS conference on Neural engineering : Cancun, Mexico, April 27–May 1, 2011. — [Mexico : s. n.], [2011]. — S. 380–383
2
  • [referat w czasopiśmie, 2011]
  • TytułA first-level event selector for the CBM experiment at FAIR
    AutorzyJ. de Cuveland, V. Lindenstruth, [et al.], M. BASZCZYK, [et al.], J. GAJDA, [et al.], P. GRYBOŚ, [et al.], K. KASIŃSKI, [et al.], R. KŁECZEK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], P. MAJ, [et al.], P. OTFINOWSKI, [et al.], R. SZCZYGIEŁ, [et al.], M. ŻOŁĄDŹ, [et al.]
    ŹródłoJournal of Physics. Conference Series. — 2011 vol. 331 iss. 2 art. no. 022006, s. 1–6. — tekst: http://iopscience.iop.org/1742-6596/331/2/022006/pdf/1742-6596_331_2_022006.pdf
3
  • [referat, 2011]
  • TytułFSDR16 a low noise, fast silicon strip detector readout IC with a 5th order complex shaping amplifier in 180 nm CMOS
    AutorzyR. KŁECZEK, P. GRYBOŚ
    Źródło2011 IEEE Nuclear science symposium and Medical imaging conference [Dokument elektroniczny] : 18th international workshop on Room-temperature semiconductor x-ray and gamma-ray detectors : industrial exhibition/short courses/ special focus workshops : Valencia, Spain, 23–29 October 2011 / guest ed. Mokhtar Chmeissani ; The Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [Piscataway : IEEE], [2011]. — S. 637–640