Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Otfinowski, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-8000-202X orcid iD

ResearcherID: C-7749-2018

Scopus: 36554793800

PBN: 5e709328878c28a0473a3f28

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • [referat w czasopiśmie, 2020]
  • TytułFRIC – a 50 ${mu}m$ pixel-pitch single photon counting ASIC with Pattern Recognition algorithm in 40 nm CMOS technology
    AutorzyP. OTFINOWSKI, G. W. DEPTUCH, P. MAJ
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 15 art. no. C01016, S. 1–8. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/01/C01016/pdf
  • keywords: pattern recognition, cluster finding, digital electronic circuits, solid state, electronic detector readout concepts, data reduction methods, calibration and fitting methods

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/15/01/C01016