Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Otfinowski, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-8000-202X orcid iD

ResearcherID: C-7749-2018

Scopus: 36554793800

PBN: 5e709328878c28a0473a3f28

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2017]
  • TytułAlgorithms for elimination of charge sharing effects in single photon counting pixel detectors
    AutorzyPiotr OTFINOWSKI
    ŹródłoMIXDES 2017 : Mixed Design of integrated circuits and systems : book of abstracts of 24textsuperscript{th} international conference : Bydgoszcz, Poland, June 22–24, 2017 / ed. by Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2017. — S. 70
2
  • [przegląd , 2017]
  • TytułChallenges in QCD matter physics - the scientific programme of the Compressed Baryonic Matter experiment at FAIR
    AutorzyT. Ablyazimov [et al.], M. BASZCZYK [et al.], A. DROZD [et al.], J. GAJDA, [et al.], P. GRYBOŚ,[et al.] ,K. KASIŃSKI, [et al.], R. KŁECZEK, [et al.], P. KMON [et al.], W. KUCEWICZ [et al.], P. MAJ, [et al.], Ł. MIK [et al.], P. OTFINOWSKI, [et al.], J. RAUZA, [et al.], T. SATŁAWA, [et al.], R. SZCZYGIEŁ, [et al.], M. ŻOŁĄDŹ, [et al.]
    ŹródłoThe European Physical Journal. A, Hadrons and Nuclei. — 2017 vol. 53 iss. 3 art. no. 60, s. 1–14. — tekst: https://goo.gl/XitO2k
3
  • [referat w czasopiśmie, 2017]
  • TytułComparison of allocation algorithms for unambiguous registration of hits in presence of charge sharing in pixel detectors
    AutorzyP. OTFINOWSKI, P. MAJ, G. DEPTUCH, F. Fahim, J. Hoff
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2017 vol. 12 art. no. C01027, s. [1], 1–10. — tekst: https://goo.gl/NpF7lC
4
  • [referat, 2017]
  • TytułDigital hit allocation algorithm for charge sharing compensation in semiconductor pixel detectors
    AutorzyPiotr OTFINOWSKI
    ŹródłoiWoRiD Conference 2017 : 19textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 115
5
  • [inne, 2017]
  • TytułSTS/MUCH-XYTER2 test setup at AGH
    AutorzyW. ZUBRZYCKA, K. KASIŃSKI, P. OTFINOWSKI
    ŹródłoCBM progress report 2016 [Dokument elektroniczny] : Compressed Baryonic Matter experiment at FAIR / eds. Ilya Selyuzhenkov, Alberica Toia. — Darmstadt : GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH, cop. 2017. — s. 38–39
6
  • [referat, 2017]
  • TytułTest results of the STS/MUCH-XYTER2, a self-triggered time and amplitude digitizing chip for Silicon Tracking System at CBM experiment
    AutorzyK. KASIŃSKI, W. ZUBRZYCKA, P. OTFINOWSKI, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoiWoRiD Conference 2017 : 19textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 43
7
  • [inne, 2017]
  • TytułTesting and diagnostic features of the STS/MUCH-XYTER2 ASIC
    AutorzyK. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. OTFINOWSKI, R. KŁECZEK, W. ZUBRZYCKA
    ŹródłoCBM progress report 2016 [Dokument elektroniczny] : Compressed Baryonic Matter experiment at FAIR / eds. Ilya Selyuzhenkov, Alberica Toia. — Darmstadt : GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH, cop. 2017. — s. 36–37
8
  • [referat, 2017]
  • TytułTests of UFXC32k chip with CdTe pixel detector
    AutorzyP. GRYBOŚ, P. KMON, A. KRZYŻANOWSKA, P. MAJ, P. OTFINOWSKI, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoiWoRiD Conference 2017 : 19textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 38