Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Otfinowski, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-8000-202X orcid iD

ResearcherID: C-7749-2018

Scopus: 36554793800

PBN: 5e709328878c28a0473a3f28

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2013]
  • TytułFlash ADCS for multichannel integrated systems in submicron technology
    AutorzyPiotr OTFINOWSKI, Paweł GRYBOŚ
    Źródło2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — S. [1–4]
2
  • [inne, 2013]
  • TytułSilicon Tracking System (STS) : technical design report for the CBM : The CBM collaboration : compressed bayronic matter experimen : October 2013 [Dokument elektroniczny]
    Autorzyeds. J. M. Heuser, [et al.] ; T. Balog, [et al.], M. BASZCZYK, P. GRYBOŚ, K. KASIŃSKI, R. KŁECZEK, P. KMON, W. KUCEWICZ, P. MAJ, P. OTFINOWSKI, R. SZCZYGIEŁ, [et al.]
    Details[Germany : s. n.], [2013]. — 175 s.
3
  • [inne, 2013]
  • TytułSTS-XYTER a prototype silicon strip detector readout chip for the STS
    AutorzyP. GRYBOŚ, K. KASIŃSKI, R. KŁECZEK, P. OTFINOWSKI, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoGSI Scientific Report 2012 [Dokument elektroniczny] / ed. Katrin Große. — Damstadt : GSI Helmholdtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH, cop. 2013. — S. 51
4
5
  • [referat, 2013]
  • TytułTime and energy measuring front-end electronics for long silicon strip detectors readout
    AutorzyR. KŁECZEK, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ, P. OTFINOWSKI, K. KASIŃSKI
    Źródło2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — S. [1–4]