doktorant
Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science WIMiIP-kmm
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
Application of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: emc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [UK : s. n.], [2012]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. [1–2]. — Tyt. przejeto z ekranu tytułowego. — Dod. afiliacja autora: P. A. Buffat'a: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Philippe-André Buffat
cyfrowy identyfikator dokumentu:
Characterisation and metrology of $\gamma'$ and $\gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 studied by advanced electron microscopy, spectroscopy and tomography techniques / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat, A. KRUK, K. KULAWIK // W: Abstract book of 11\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 11–14 September 2016, Gniew, Poland / PAN, PTMi, Kyushu University. — [Poland : s. n.], [2016]. — S. 24. — Bibliogr. s. 24
keywords: Inconel 718, ChemiSTEM, superalloys, FIB SEM tomography
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk
Characterisation of phases strengthening Inconel 718 and Allvac 718Plus superalloys / S. LECH, K. KULAWIK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Materials Weekend Warsaw : young scientists workshop : 19.–20. September 2015, Warsaw, Poland / Warsaw University of Technology. — [Warsaw : Warsaw University of Technology], [2015]. — S. 52
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Sebastian Lech
Characterization of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 superalloy down to atomic level / Krzysztof KULAWIK, Philippe André BUFFAT, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM2014 : XV international conference on Electron Microscopy : 15–18 September, 2014, Kraków, Poland : programme and abstracts / AGH University of Science and Technology. International Centre of Electron Microscopy for Materials Science. Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science, Polish Society for Microscopy, Committee of Materials Science of the Polish Academy of Sciences. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe Akapit, 2014. — Opis częśc. wg okł.. — ISBN: 978-83-63663-48-3. — S. 295–296. — Philippe André Buffat – dod. afiliacja: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Philippe-André Buffat
Chemical element mapping and metrology of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 superalloy for aeronautics and power generation / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. Buffat, K. KULAWIK // W: MC 2013 Regensburg : August 25–30, 2013, Regensburg, Germany : proceedings. — Germany : [s. n.], 2013. — S. 547–548
keywords: nano particles, Inconel 718, ChemiSTEM
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz
Imaging and characterization of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 by EDX elemental mapping and FIB-SEM tomography / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, A. KRUK, A. M. Wusatowska-Sarnek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Materials Characterization : an International Journal on Materials Structure and Behavior ; ISSN 1044-5803. — 2015 vol. 100, s. 74–80. — Bibliogr. s. 80, Abstr.. — P. A. Buffat – dod. afiliacja: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1044580314003908/pdfft?md5=1e76f62b53da6b23e9fc1925fdbf07e0&pid=1-s2.0-S1044580314003908-main.pdf
keywords: heat treatment, electron microscopy, tomography, IN718, ChemiSTEMTM EDX
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Philippe-André Buffat
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.matchar.2014.12.012
Metrology and morphology of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB-SEM tomography / K. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2013 vol. 197, s. 131–136. — Bibliogr. s. 136, Abstr.. — STERMAT : Stereology and image analysis in Materials science : 9th international conference : Zakopane, 3rd–6th September 2012
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.197.131
Metrology and morphology of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB/SEM tomography / K. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: STERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 9. — Bibliogr. s. 9
Probe Cs-corrected STEM with ChemiSTEM EDX microanalysis system for characterisation of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles strengthening Inconel 718 superalloy / K. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: C-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — ISBN: 978-83-63663-07-0. — S. 25. — Bibliogr. s. 25. — Dod. afiliacja P. A. Buffat: Ecole Politechnique Fédérale de Lausanne, Switzerland
Quantitative characterization of \(\Gamma^\prime\) and \(\Gamma^{\prime\prime}\) strengthening nanoparticles in Inconel 718 superalloy by advanced electron microscopy / CZYRSKA-FILEMONOWICZ Aleksandra, KULAWIK Krzysztof, DUBIEL Beata, Buffat Philippe A. // W: AMT'2013 : Advanced Materials and Technologies : XX physical metallurgy and materials science conference : 9–12 June 2013, Kudowa Zdrój / Częstochowa University of Technology. Institute of Materials Engineering. — [Częstochowa : University of Technology], [2013]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 86–88. — Bibliogr. s. 87. — Buffat Philippe A. – afiliacja: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, CIME
Strengthening phases in Allvac 718Plus and Inconel 718 superalloys for aeronautics / S. LECH, K. KULAWIK, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: AMT 2016 : Advanced Materials and Technologies : XXI physical metallurgy and materials science conference : Rawa Mazowiecka, June 5–8, 2016 : conference abstracts. — [Polska] : BEL Studio Sp. z o. o., [2016]. — ISBN: 978-83-7798-600-4. — S. [1] DP7
keywords: Inconel 718, phases, 718Plus, materials characterization
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Sebastian Lech
Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / Krzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 3rd Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy focused on alloys & Symposium of the International Centre of Electron Microscopy for Materials Science at the AGH University of Science and Technology : Kraków, 19–20.05.2011 : proceedings / eds. Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Tomasz Moskalewicz. — Kraków : AGH University of Science and Technology, cop. 2011. — ISBN: 978-83-60958-77-3. — S. 149–150. — Bibliogr. s. 150
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk
Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / KULAWIK K., KRUK A., CZYRSKA-FILEMONOWICZ A. // W: EM 2011 : XIV\textsuperscript{th} international conference on Electron Microscopy : 26–30 June, 2011, Wisła, Poland : programme & abstracts. — [Polska : s. n.], 2011. — S. 43–45. — Bibliogr. s. 45
Three-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography / Krzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2012 vol. 186, s. 45–48. — Bibliogr. s. 48, Abstr.. — Electron Microscopy XIV : selected peer reviewed papers from the XIV international conference on Electron Microscopy (EM 2011) : June 26–30, 2011, Wisla, Poland / ed. Danuta Stróż, Krystian Prusik. — Durnten-Zurich : Trans Tech Publications Ltd, cop. 2012. — ISBN-13 978-3-03785-381-8. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.45.pdf
keywords: electron tomography, nano particles, Inconel 718, FIB tomography
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.186.45